Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ДВУХУРОВНЕВОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ СЛУЧАЙНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ ДЛИНОЙ 128 И 256 БИТ

Аннотация

Найдены теоретические распределения вероятностей превышения тестовыми статистиками значений, получаемых при тестировании случайных последовательностей длиной 128 и 256 бит по тесту на самые длинные подпоследовательности единиц в блоках. Приведены результаты двухуровневого тестирования случайных последовательностей, выработанных генераторами электронных пластиковых карт.

Для цитирования:


Киевец Н.Г., Корзун А.И. ДВУХУРОВНЕВОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ СЛУЧАЙНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ ДЛИНОЙ 128 И 256 БИТ. Доклады БГУИР. 2017;(3):78-84.

For citation:


Kiyevets N.G., Korzun A.I. Two-level testing of 128-bit and 256-bit random sequences. Doklady BGUIR. 2017;(3):78-84. (In Russ.)

Просмотров: 430


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)