Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Киевец Н.Г., Корзун А.И. ДВУХУРОВНЕВОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ СЛУЧАЙНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ ДЛИНОЙ 128 И 256 БИТ. Доклады БГУИР. 2017;(3):78-84.

For citation:


Kiyevets N.G., Korzun A.I. Two-level testing of 128-bit and 256-bit random sequences. Doklady BGUIR. 2017;(3):78-84. (In Russ.)

Просмотров: 4


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)