Для цитирования:

Киевец Н.Г., Корзун А.И. ДВУХУРОВНЕВОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ СЛУЧАЙНЫХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОСТЕЙ ДЛИНОЙ 128 И 256 БИТ. Доклады БГУИР. 2017;(3):78-84.

For citation:

Kiyevets N.G., Korzun A.I. Two-level testing of 128-bit and 256-bit random sequences. Doklady BGUIR. 2017;(3):78-84. (In Russ.)