Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ЭФФЕКТИВНОСТЬ МОДЕЛЕЙ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПРИ ПРОГНОЗИРОВАНИИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Полный текст:

Аннотация

Для полупроводниковых приборов большой мощности экспериментально получены модели деградации функционального параметра в виде условной плотности его распределения в предположении трех гипотез о законе распределения в точках наработки: нормальный, двухпараметрический экспоненциальный и Вейбулла-Гнеденко. С помощью средней ошибки прогнозирования сделано сравнение эффективности моделей деградации при определении параметрической надежности новых выборок однотипных приборов.

Об авторах

С. М. Боровиков
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Республика Беларусь
Беларусь


Н. И. Цырельчук
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Республика Беларусь
Беларусь


С. С. Дик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Республика Беларусь
Беларусь


Е. Н. Шнейдеров
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Республика Беларусь
Беларусь


Список литературы

1. Боровиков С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники. М.: Новое знание, 2013. 343 с.

2. Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. Методика прогнозирования параметрической надежности изделий электронной техники по модели деградации функционального параметра // Докл. БГУИР. 2014. № 6 (84). С. 5-11.

3. Физические основы надежности интегральных схем / В.Ф. Сынаров [и др.]. М.: Сов. радио, 1976. 320 с.

4. Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., Бурак И.А. Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники // Докл. НАН Беларуси. 2015. Т. 59. № 3. С. 109-115.

5. Borovikov S., Shneiderov E., Burak I. Models Based on the Weibull-Gnedenko Distribution for the Description of the Degradation of Functional Parameters of Electronic Devices // Computational Problems of Electrical Engineering. 2016. Vol. 6, No. 1. P. 1-8.

6. Экспериментальное исследование деградации изделий электронной техники / С.М. Боровиков [и др.] // Докл. БГУИР. 2017. № 2 (104). С. 45-52.

7. Эконометрика / И.И. Елисеева [и др.]. М.: Финансы и статистика, 2007. 576 с.


Для цитирования:


Боровиков С.М., Цырельчук Н.И., Дик С.С., Шнейдеров Е.Н. ЭФФЕКТИВНОСТЬ МОДЕЛЕЙ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПРИ ПРОГНОЗИРОВАНИИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. Доклады БГУИР. 2018;(5):50-56.

For citation:


Borovikov S.M., Tsyrelchuk N.I., Dick S.S., Shneiderov E.N. Effectiveness of models of degradation of functional parameters for predicting the parametric reliability of semiconductor devices. Doklady BGUIR. 2018;(5):50-56. (In Russ.)

Просмотров: 46


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)