Для цитирования:

Боровиков С.М., Цырельчук Н.И., Дик С.С., Шнейдеров Е.Н. ЭФФЕКТИВНОСТЬ МОДЕЛЕЙ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПРИ ПРОГНОЗИРОВАНИИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. Доклады БГУИР. 2018;(5):50-56.

For citation:

Borovikov S.M., Tsyrelchuk N.I., Dick S.S., Shneiderov E.N. Effectiveness of models of degradation of functional parameters for predicting the parametric reliability of semiconductor devices. Doklady BGUIR. 2018;(5):50-56. (In Russ.)