INFLUENCE OF GAMMA RADIATION ON MOS/SOI TRANSISTORS
Abstract
About the Authors
Yu. V. BogatyrevБеларусь
S. B. Lastovsky
Беларусь
S. A. Soroka
Беларусь
S. V. Shwedov
Беларусь
D. A. Ogorodnikov
Беларусь
References
1. Claeys C., Simoen E. Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices. Berlin, 2002.
2. Barnaby H.J. // IEEE Trans. Nucl. Sci., 2006. Vol. 53. P. 3103-3121.
3. Colinge J.P. Silicon-On-Insulator Technology: Materials to VLSI. Kluwer Academic Publishers, 1997.
4. Revesz A.G., Hughes H.L. Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices / Ed. by J.P. Colinge, et. al. Kluwer Academic Publishers, 1995.
5. Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. М., 2004.
6. Liu S.T., Fechner P.E., Jenkins W.C., et. al. // Electrochemical Society Proceedings. 2001. Vol. 3. P. 121-126.
7. Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Минск, 1986.
8. Першенков В.С., Попов В.Д., Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем. М., 1988.
9. SILVACO International. ATLAS User’s Manual. Device Simulation Software. [Электронный ресурс]. -Режим доступа: http: // www.silvaco.com. - Дата доступа: 11.08.2015.
Review
For citations:
Bogatyrev Yu.V., Lastovsky S.B., Soroka S.A., Shwedov S.V., Ogorodnikov D.A. INFLUENCE OF GAMMA RADIATION ON MOS/SOI TRANSISTORS. Doklady BGUIR. 2016;(3):75-80. (In Russ.)
JATS XML























