Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

Ю.В. БОГАТЫРЕВ, С.Б. ЛАСТОВСКИЙ, С.А. СОРОКА*, С.В. ШВЕДОВ*, Д.А. ОГОРОДНИКОВ

Полный текст:

Аннотация

Приведены результаты исследований влияния гамма-излучения Со60 на характеристики тестовых МОП/КНИ-транзисторов с различными конструктивно-технологическими особенностями и электрическими режимами.

Об авторах

Ю. В. Богатырев
Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Беларусь


С. Б. Ластовский
Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Беларусь


С. А. Сорока
НТЦ «Белмикросистемы» ОАО «Интеграл»
Беларусь


С. В. Шведов
НТЦ «Белмикросистемы» ОАО «Интеграл»
Беларусь


Д. А. Огородников
Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Беларусь


Список литературы

1. Claeys C., Simoen E. Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices. Berlin, 2002.

2. Barnaby H.J. // IEEE Trans. Nucl. Sci., 2006. Vol. 53. P. 3103-3121.

3. Colinge J.P. Silicon-On-Insulator Technology: Materials to VLSI. Kluwer Academic Publishers, 1997.

4. Revesz A.G., Hughes H.L. Physical and Technical Problems of SOI Structures and Devices / Ed. by J.P. Colinge, et. al. Kluwer Academic Publishers, 1995.

5. Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. М., 2004.

6. Liu S.T., Fechner P.E., Jenkins W.C., et. al. // Electrochemical Society Proceedings. 2001. Vol. 3. P. 121-126.

7. Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А. Воздействие радиации на интегральные микросхемы. Минск, 1986.

8. Першенков В.С., Попов В.Д., Шальнов А.В. Поверхностные радиационные эффекты в элементах интегральных микросхем. М., 1988.

9. SILVACO International. ATLAS User’s Manual. Device Simulation Software. [Электронный ресурс]. -Режим доступа: http: // www.silvaco.com. - Дата доступа: 11.08.2015.


Для цитирования:


Богатырев Ю.В., Ластовский С.Б., Сорока С.А., Шведов С.В., Огородников Д.А. Ю.В. БОГАТЫРЕВ, С.Б. ЛАСТОВСКИЙ, С.А. СОРОКА*, С.В. ШВЕДОВ*, Д.А. ОГОРОДНИКОВ. Доклады БГУИР. 2016;(3):75-80.

For citation:


Bogatyrev Y.V., Lastovsky S.B., Soroka S.A., Shwedov S.V., Ogorodnikov D.A. INFLUENCE OF GAMMA RADIATION ON MOS/SOI TRANSISTORS. Doklady BGUIR. 2016;(3):75-80. (In Russ.)

Просмотров: 34


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)