Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

Пассивация токопроводящей системы интегральных схем слоем нитрида алюминия

https://doi.org/10.35596/1729-7648-2023-21-3-12-16

Аннотация

Пассивация пленочной токопроводящей системы интегральных схем делает ее более надежной за счет повышения устойчивости к электромиграции. Рассмотрена задача по изготовлению пассивирующего слоя на сформированной токопроводящей системе интегральной схемы, получаемой в едином технологическом цикле, включающем изотропное плазмохимическое травление слоя сплава алюминия на глубину 8–12 нм и изотропное плазмохимическое азотирование поверхности полученных токоведущих дорожек до достижения толщины нитрида алюминия 10–50 нм. Данная задача позволяет выполнить формирование на кремниевой подложке с активными областями диэлектрической пленки на основе диоксида кремния, травление в диэлектрической пленке контактных окон к активным элементам подложки, осаждение барьерного слоя толщиной 0,005–0,050 мкм, нанесение пленки сплава алюминия толщиной 0,5–2,0 мкм и многое другое.

Для цитирования:


Емельянов В.В. Пассивация токопроводящей системы интегральных схем слоем нитрида алюминия. Доклады БГУИР. 2023;21(3):12-16. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2023-21-3-12-16

For citation:


Emelyanov V.V. Passivation of a Conductive System of Integrated Circuits with a Layer of Aluminum Nitride. Doklady BGUIR. 2023;21(3):12-16. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2023-21-3-12-16

Просмотров: 523


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)