Для цитирования:

Ван Т., Чубенко Е.Б., Борисенко В.Е. Резисторная модель слоистых пленочных структур. Доклады БГУИР. 2023;21(2):14-20. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2023-21-2-14-20

For citation:

Van T., Chubenko E.B., Borisenko V.E. Resistor Model of Layered Film Structures. Doklady BGUIR. 2023;21(2):14-20. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2023-21-2-14-20