FORECASTING METHOD OF PARAMETRIC Reliability of electronic devices BY MODEL OF functional parameter'S DEGRADATION
Abstract
The method of obtaining the model, describing degradation regularity for function parameter of electronic device (ED) sample, was systematized. The probability distribution function (for operating time of interest) of function parameter of ED sample is considered as a model of degradation. On the basis of the method the technique for prediction of parametric reliability of new ED samples was developed. It can be used for new samples of ED of the same type, but which did not participate in preliminary research/investigations. Prediction is obtained as the probability of the fact, when functional parameter of any device in a sample will have the value within the specified limits after specified operating time.
About the Authors
S. M. Borovikov
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Belarus
Belarus
E. N. Shneiderov
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Belarus
Belarus
References
1. ГОСТ 27.002-89. Надежность в технике. Основные понятия. Термины и определения.
2. Боровиков С.М. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности. Минск, 1998.
3. Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н. и др. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск, 2010.
4. European Organization of the Quality Control Glassary. Bern, 1988.
5. Сынаров В.Ф., Пивоварова Р.П., Петров Б.К. и др. Физические основы надежности интегральных схем. М., 1976.
6. Боровиков С.М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105-109.
7. Боровиков С. М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. БГУИР. 2008. № 6 (36). С. 32-39.
8. Боровиков С. М., Шнейдеров Е.Н. // Матер. XVI междунар. науч.-техн. конф. «Современные средства связи». Минск, 27-29 сентября 2011 г. С. 81.
9. Вентцель Е. С. Теория вероятностей. М., 1969.
10. Загребельный В.П., Моисеев Н.Г., Нойверт Л.М. // Электронная техника. Сер. 8. Вып. 2(139). 1990. С. 41-45.
11. Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998.
12. Bipolar Power Transistors Data Book 1998 / TEMIC Semiconductor GmbH. DGT-005-1297, 1997.
13. Боровиков С. М., Шнейдеров Е.Н. // Докл. БГУИР. № 7 (61). 2011. С. 31-37.
Review
For citations:
Borovikov S.M., Shneiderov E.N. FORECASTING METHOD OF PARAMETRIC Reliability of electronic devices BY MODEL OF functional parameter'S DEGRADATION. Doklady BGUIR. 2014;(6):5-11. (In Russ.)
Views: 418
Email this article 