Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. МЕТОДИКА ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО МОДЕЛИ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ПАРАМЕТРА. Доклады БГУИР. 2014;(6):5-11.

For citation:


Borovikov S.M., Shneiderov E.N. FORECASTING METHOD OF PARAMETRIC Reliability of electronic devices BY MODEL OF functional parameter'S DEGRADATION. Doklady BGUIR. 2014;(6):5-11. (In Russ.)

Просмотров: 31


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)