Для цитирования:
Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. МЕТОДИКА ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО МОДЕЛИ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ПАРАМЕТРА. Доклады БГУИР. 2014;(6):5-11.
For citation:
Borovikov S.M., Shneiderov E.N. FORECASTING METHOD OF PARAMETRIC Reliability of electronic devices BY MODEL OF functional parameter'S DEGRADATION. Doklady BGUIR. 2014;(6):5-11. (In Russ.)