Для цитирования:

Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. Модель прогнозирования времени тестирования компьютерной программы автоматизированной оценки надежности полупроводниковых приборов. Доклады БГУИР. 2022;20(7):72-80. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-7-72-80

For citation:

Kaziuchyts V.O., Borovikov S.M., Shneiderov E.N. Model for Prediction of Testing Time of a Computer Program for Automated Reliability Evaluation of Semiconductor Devices. Doklady BGUIR. 2022;20(7):72-80. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-7-72-80