bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИР10.35596/1729-7648-2022-20-7-72-80bsuir-3504Research ArticleЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОФИЗИКА, РАДИОТЕХНИКА, ИНФОРМАТИКАELECTRONICS, RADIOPHYSICS, RADIOENGINEERING, INFORMATICSМодель прогнозирования времени тестирования компьютерной программы автоматизированной оценки надежности полупроводниковых приборовModel for Prediction of Testing Time of a Computer Program for Automated Reliability Evaluation of Semiconductor DevicesКазючицВ. О.KaziuchytsV. O.

 Казючиц В. О., м.т.н., аспирант 

 220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6 

 

Kaziuchyts V. O., M. Sci, Postgraduate

220013, Republic of Belarus, Minsk, P. Brovka St., 6 

БоровиковС. М.BorovikovS. M.

Боровиков Сергей Максимович, к.т.н., доцент, доцент кафедры проектирования информационно-компьютерных систем 

 220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6 

 Тел. +375 17 293-88-38 

Borovikov  Sergei Maksimovich, Cand. of Sci., Associate professor of the Department of Information and Computer Systems Design 

220013, Republic of Belarus, Minsk, P. Brovka St., 6 

 Tel. +375 17 293-88-38 

bsm@bsuir.byШнейдеровЕ. Н.ShneiderovE. N.

 Шнейдеров Е. Н., к.т.н., доцент, проректор по учебной работе  

 220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6 

 Shneiderov E. N., Cand. of Sci., Vice-Rector for Academic Affairs  

220013, Republic of Belarus, Minsk, P. Brovka St., 6 

Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarusian State University of Informatics and Radioelectronics2022121220222077280Copyright © Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., 20222022Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н.Kaziuchyts V.O., Borovikov S.M., Shneiderov E.N.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3504

Планируемая к разработке компьютерная программа KLASS предназначена для работы в составе программного комплекса АРИОН-плюс и позволяет выполнять автоматизированную оценку надежности изделий электроники, включая полупроводниковые приборы. На этапе планирования работ по созданию программы KLASS, как модуля комплекса АРИОН-плюс, возник вопрос о рабочем времени, отводимом на процедуру тестирования компьютерной программы. Описанные в научной литературе подходы, используемые для оценки эксплуатационной надежности компьютерных программ с учетом их тестирования, исходят из того, что написан и отлажен программный код и имеются определенные данные о результатах тестирования компьютерной программы. Разработчики программного обеспечения еще до начала выполнения работ по написанию программного кода хотели бы знать прогнозное время тестирования, обеспечивающее заданную эксплуатационную надежность компьютерной программы. На основе анализа экспериментальных данных о надежности компьютерных программ разных областей применения предложена модель определения времени тестирования, необходимого для обеспечения эксплуатационной надежности программ. Модель использована для планируемой к разработке компьютерной программы KLASS и учитывает язык программирования, объем программного кода, быстродействие процессора компьютера и область применения программы. На основе полученной модели построена номограмма с двумя бинарными полями, позволяющая быстро определить прогнозное время тестирования компьютерных программ.

The KLASS computer program planned for development is designed to work as a part of the ARION-plus software package and allows you to perform an automated assessment of the reliability of electronic products, including semiconductor devices. At the stage of work planning on the creation of the KLASS program, as a module of the ARION-plus complex, the question arose about the working time allotted for the procedure for testing a computer program. The approaches described in the scientific literature used to assess the operational reliability of computer programs, taking into account their testing, proceed from the fact that the program code has been written and debugged and there are certain data on the results of testing the computer program. Software developers would like to know the predicted testing time, which ensures a given operational reliability of a computer program, even before starting work on writing program code. Based on the analysis of the experimental data on the reliability of computer programs in various fields of application, a model is proposed for determining the testing time required to ensure the operational reliability of programs. The model was used for the computer program KLASS planned for development and takes into account the programming language, the amount of program code, the speed of the computer processor, and the scope of the program. Based on the obtained model, a nomogram with two binary fields was constructed, which allows one to quickly determine the predicted time for testing computer programs.

компьютерные программыэффективность тестированиявремя тестированияэксплуатационная надежность программполупроводниковые приборыcomputer programstesting efficiencytesting timeoperational reliabilitysemiconductor devicesРабота выполнена в рамках договоров (проектов) на выполнение научно-исследовательских работ № Т20МВ-026 на тему «Прогнозирование эксплуатационной надежности мощных полупроводниковых приборов с использованием методов и алгоритмов машинного обучения» и № Ф20МВ-021 «Статистические модели надежности прикладных программных средств и их использование для оценки ожидаемой безотказности компьютерных программ на ранних этапах их разработки» в соответствии с решением Научного совета Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований (протокол № 1 от 22.04.2020).The article was prepared as part of the project No. Т20МВ-026 on the topic “Predicting the operational reliability of powerful semiconductor devices using machine learning methods and algorithmsˮ and No F20MV-021 “Statistical models of the reliability of applied software and their use to assess the expected reliability of computer programs at the early stages of their developmentˮ in accordance with the decision approved by the Scientific Council of the Belarusian Republican Foundation for Fundamental Research (Protocol No 1 dated 22.04.2020).ReferencesРазработка методики прогнозирования надежности электронных устройств для системы АРИОН /С. М. Боровиков [и др.] // Доклады БГУИР. 2011. № 4. С. 93–100.Borovikov S. M., Shneiderov E. N., Matyushkov V. E., Tsyrelchuk I. N. (2011) Development of a Method for Predicting the Reliability of Electronic Devices for the ARION System. Doklady BGUIR = Doklady BGUIR. (4), 93–100 (in Russian).Боровиков, С.М. Индивидуальное прогнозирование надежнсти транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения / С. М. Боровиков, В. О. Казючиц // Доклады БГУИР. 2021. Т. 19, № 1. С. 88–95. http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-1-88-95.Borovikov S. M., Kazyuchicz V. O. (2021) Individual Prediction of the Reliability of Semiconductor Devices for Electronic Devices of Medical Purposes. Doklady BGUIR = Doklady BGUIR. 19 (1), 88–95. http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-1-88-95 (in Russian).Боровиков, С. М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники / С. М. Боровиков. М.: Новое знание, 2013.Borovikov S. M. (2010) Statistical Forecasting for the Rejection of Potentially Unreliable Electronic Products. Moscow, New Knowledge Publ. (in Russian).Прогнозирование надежности изделий электронной техники / С. М. Боровиков [и др.]. Минск: МГВРК, 2010.Borovikov S. M., Tsyrelchuk I. N., Shneiderov E. N., Beresnevich A. I. (2010) Predicting the Reliability of Electronic Products. Minsk, MGVRK Publ. (in Russian).Метод прогнозирования надежности изделий электронной техники / С. М. Боровиков [и др.] // Доклады Национальной академии наук Беларуси. 2006. Т. 50, № 4. С. 105–109.Borovikov S. M., Beresnevich A. I., Khmyl A. A., Emelyanov A. V., Tsyrelchuk I. N. (2006) Method for Predicting the Reliability of Electronic Products. Doklady Natsional’noi Akademii Nauk Belarusi = Doklady of the National Academy of Sciences of Belarus. 50 (4), 105–109 (in Russian).Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики / С. М. Боровиков [и др.] // Доклады БГУИР. 2006. № 2. С. 49–56.Borovikov S. M., Beresnevich A. I., Khmyl A. A., Emelyanov A. V., Tsyrelchuk I. N. (2006) Predicting the Reliability of Electronic Products Using the Threshold Logic Method. Doklady BGUIR = Doklady BGUIR. (2), 49–56 (in Russian).Оценка ожидаемой надежности прикладных программных средств для компьютерных информационных систем / С. М. Боровиков [и др.] // Информатика. 2021. Т. 18, № 1. С. 84–95. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-84-95.Borovikov S. M., Kazyuchits V. O., Khoroshko V. V., Dik S. S., Klinov K. I. (2021) Estimation of the Expected Reliability of Applied Software for Computer Information Systems. Informatics = Informatics. 18 (1), 84–95. https://doi.org/10.37661/1816-030.1-2021-18-1-84-95 (in Russian).Software Reliability, Measurement, and Testing Guidebook for Software Reliability Measurement and Testing [Electronic Resource] / J. A. McCall [et al.]. 1992. Mode of access: https://apps.dtic.mil/dtic/tr/fulltext/u2/a256164.pdf. Date of access: 20.04.2022.McCall J. A. et al. (1992) Software Reliability, Measurement, and Testing Guidebook for Software Reliability Measurement and Testing. Available at: https://apps.dtic.mil/dtic/tr/fulltext/u2/a256164.pdf (Accessed 20 April 2022).Шубинский, И. Б. Функциональная надежность информационных систем. Методы анализа / И. Б. Шубинский. М.: Журнал Надежность, 2012.Shubinsky I. B. (2012) Functional Reliability of Information Systems. Analysis Methods. Moscow, Magazine Reliability Publ. (in Russian).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.