Модель прогнозирования времени тестирования компьютерной программы автоматизированной оценки надежности полупроводниковых приборов

Планируемая к разработке компьютерная программа KLASS предназначена для работы в составе программного комплекса АРИОН-плюс и позволяет выполнять автоматизированную оценку надежности изделий электроники, включая полупроводниковые приборы. На этапе планирования работ по созданию программы KLASS, как модуля комплекса АРИОН-плюс, возник вопрос о рабочем времени, отводимом на процедуру тестирования компьютерной программы. Описанные в научной литературе подходы, используемые для оценки эксплуатационной надежности компьютерных программ с учетом их тестирования, исходят из того, что написан и отлажен программный код и имеются определенные данные о результатах тестирования компьютерной программы. Разработчики программного обеспечения еще до начала выполнения работ по написанию программного кода хотели бы знать прогнозное время тестирования, обеспечивающее заданную эксплуатационную надежность компьютерной программы. На основе анализа экспериментальных данных о надежности компьютерных программ разных областей применения предложена модель определения времени тестирования, необходимого для обеспечения эксплуатационной надежности программ. Модель использована для планируемой к разработке компьютерной программы KLASS и учитывает язык программирования, объем программного кода, быстродействие процессора компьютера и область применения программы. На основе полученной модели построена номограмма с двумя бинарными полями, позволяющая быстро определить прогнозное время тестирования компьютерных программ.

1. Разработка методики прогнозирования надежности электронных устройств для системы АРИОН /С. М. Боровиков [и др.] // Доклады БГУИР. 2011. № 4. С. 93–100.

2. Боровиков, С.М. Индивидуальное прогнозирование надежнсти транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения / С. М. Боровиков, В. О. Казючиц // Доклады БГУИР. 2021. Т. 19, № 1. С. 88–95. http://dx.doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-1-88-95.

3. Боровиков, С. М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники / С. М. Боровиков. М.: Новое знание, 2013.

4. Прогнозирование надежности изделий электронной техники / С. М. Боровиков [и др.]. Минск: МГВРК, 2010.

5. Метод прогнозирования надежности изделий электронной техники / С. М. Боровиков [и др.] // Доклады Национальной академии наук Беларуси. 2006. Т. 50, № 4. С. 105–109.

6. Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики / С. М. Боровиков [и др.] // Доклады БГУИР. 2006. № 2. С. 49–56.

7. Оценка ожидаемой надежности прикладных программных средств для компьютерных информационных систем / С. М. Боровиков [и др.] // Информатика. 2021. Т. 18, № 1. С. 84–95. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-84-95.

8. Software Reliability, Measurement, and Testing Guidebook for Software Reliability Measurement and Testing [Electronic Resource] / J. A. McCall [et al.]. 1992. Mode of access: https://apps.dtic.mil/dtic/tr/fulltext/u2/a256164.pdf. Date of access: 20.04.2022.

9. Шубинский, И. Б. Функциональная надежность информационных систем. Методы анализа / И. Б. Шубинский. М.: Журнал Надежность, 2012.