Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

МЕТОДИКА ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО МОДЕЛИ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ПАРАМЕТРА

Полный текст:

Аннотация

Систематизирован метод получения модели, описывающей закономерность деградации функционального параметра выборки изделий электронной техники (ИЭТ). В качестве модели деградации рассматривается условная (для интересующей наработки) плотность распределения функционального параметра выборки ИЭТ. На основе метода разработана методика прогнозирования параметрической надежности новых однотипных выборок ИЭТ, не принимавших участие в предварительных исследованиях на этапе получения модели деградации функционального параметра. Прогноз получают в виде вероятности того, что функциональный параметр любого экземпляра новой выборки ИЭТ для заданной наработки будет иметь значение в пределах указанных норм.

Об авторах

С. М. Боровиков
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Е. Н. Шнейдеров
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. ГОСТ 27.002-89. Надежность в технике. Основные понятия. Термины и определения.

2. Боровиков С.М. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности. Минск, 1998.

3. Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н. и др. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск, 2010.

4. European Organization of the Quality Control Glassary. Bern, 1988.

5. Сынаров В.Ф., Пивоварова Р.П., Петров Б.К. и др. Физические основы надежности интегральных схем. М., 1976.

6. Боровиков С.М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105-109.

7. Боровиков С. М., Шалак А.В., Бересневич А.И. и др. // Докл. БГУИР. 2008. № 6 (36). С. 32-39.

8. Боровиков С. М., Шнейдеров Е.Н. // Матер. XVI междунар. науч.-техн. конф. «Современные средства связи». Минск, 27-29 сентября 2011 г. С. 81.

9. Вентцель Е. С. Теория вероятностей. М., 1969.

10. Загребельный В.П., Моисеев Н.Г., Нойверт Л.М. // Электронная техника. Сер. 8. Вып. 2(139). 1990. С. 41-45.

11. Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998.

12. Bipolar Power Transistors Data Book 1998 / TEMIC Semiconductor GmbH. DGT-005-1297, 1997.

13. Боровиков С. М., Шнейдеров Е.Н. // Докл. БГУИР. № 7 (61). 2011. С. 31-37.


Для цитирования:


Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. МЕТОДИКА ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ ПО МОДЕЛИ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ПАРАМЕТРА. Доклады БГУИР. 2014;(6):5-11.

For citation:


Borovikov S.M., Shneiderov E.N. FORECASTING METHOD OF PARAMETRIC Reliability of electronic devices BY MODEL OF functional parameter'S DEGRADATION. Doklady BGUIR. 2014;(6):5-11. (In Russ.)

Просмотров: 44


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)