Для цитирования:

Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов. Доклады БГУИР. 2022;20(1):92-100. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100

For citation:

Kaziuchyts V.O., Borovikov S.M., Shneiderov E.N. Heuristic Model of Forecasting of Operating State of Semiconductor Devices. Doklady BGUIR. 2022;20(1):92-100. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100