<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">bsuir</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Доклады БГУИР</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Doklady BGUIR</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7648</issn><issn pub-type="epub">2708-0382</issn><publisher><publisher-name>БГУИР</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">bsuir-3289</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОФИЗИКА, РАДИОТЕХНИКА, ИНФОРМАТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTRONICS, RADIOPHYSICS, RADIOENGINEERING, INFORMATICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Heuristic Model of Forecasting of Operating State of Semiconductor Devices</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Казючиц</surname><given-names>В. О.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kaziuchyts</surname><given-names>V. O.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>м.т.н., аспирант.</p><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>M.Sc., Ph.D. student.</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Боровиков</surname><given-names>С. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Borovikov</surname><given-names>S. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Боровиков Сергей Максимович - кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры проектирования информационно-компьютерных систем.</p><p>220013, Минск, ул. П. Бровки, 6, тел. +375-17-293-88-38</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Borovikov Sergei Maksimovich - Cand. of Sci., Associate Professor, Associate Professor at the Department of Information and Computer Systems Design.</p><p>220013, Minsk, P. Brovki st., 6, tel. +375-17-293-88-38</p></bio><email xlink:type="simple">bsm@bsuir.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шнейдеров</surname><given-names>Е. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Shneiderov</surname><given-names>E. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Кандидат технических наук, доцент, проректор по учебной работе.</p><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Cand. of Sci., Associate Professor, Vice-Rector for Academic Affairs.</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>03</month><year>2022</year></pub-date><volume>20</volume><issue>1</issue><fpage>92</fpage><lpage>100</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., 2022</copyright-statement><copyright-year>2022</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Kaziuchyts V.O., Borovikov S.M., Shneiderov E.N.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3289">https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3289</self-uri><abstract><p>Метод пороговой логики, применяемый для изделий электронной техники при оценке их надежности в виде прогнозирования класса работоспособности изделий для заданной наработки (K1 – класс работоспособных, K0 – класс неработоспособных экземпляров), предусматривает преобразование в двоичный код информативных параметров, полученных в начальный момент времени, и позволяет построить модель прогнозирования в виде таблицы, показывающей, каким комбинациям кода соответствуют экземпляры класса K1. Использование двоичного преобразования упрощает процедуру прогнозирования, но немного снижается достоверность прогнозов. Актуальным является получение модели прогнозирования, обладающей простотой ее применения и обеспечивающей более высокую достоверность прогнозирования класса изделий, нежели при двоичном преобразовании параметров. На примере биполярных транзисторов типа КТ872А установлены закономерности электрических параметров, используемых в качестве информативных, и для их преобразования в код предложено рассматривать три области изменения параметра: первая область – диапазон значений между математическими ожиданиями, полученными отдельно для экземпляров классов K1 и K0; две другие области – значения параметра, находящиеся слева и справа от этого диапазона. Значениям параметра, попадающим в диапазон, присваивается код R (от слова Range – диапазон), за пределами указанного диапазона – код 1 (единица) или 0 (нуль) в зависимости от закономерности информативного параметра. Поясняется, как выполнять преобразование параметров в коды 1, 0 и R и получать модель прогнозирования в виде логической таблицы, построенной из этих кодов. На примере исследуемых транзисторов показано, что предлагаемая эвристическая модель обеспечивает лучшие результаты прогнозирования, практически сохраняя простоту базового метода пороговой логики.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The threshold logic method used for electronic products when assessing their reliability in the form of predicting the performance class of products for a given operating time (K1 is a class of operable ones, K0 is a class of inoperable copies) provides for the transformation into a binary code of informative parameters obtained at the initial moment of time, and allows to build a forecasting model in the form of a table showing which code combinations correspond to the instances of the K1 class. The use of a binary transformation simplifies the forecasting procedure, but the reliability of the predictions is slightly reduced. It is relevant to obtain a forecasting model that has the simplicity of its application and provides a higher reliability of forecasting a class of products than with a binary transformation of parameters. On the example of bipolar transistors of the KT872A type, the regularities of electrical parameters used as informative ones are established, and for their transformation into a code, it is proposed to consider three areas of parameter change: the first area is the range of values between the mathematical expectations obtained separately for instances of the classes K1 and K0; the other two areas are the parameter values to the left and right of this range. Parameter values falling within the range are assigned the R code (from the word Range), outside the specified range - the code 1 (one) or 0 (zero), depending on the pattern of the informative parameter. It is explained how to convert parameters to codes 1, 0 and R and get a prediction model in the form of a logical table built from these codes. Basing on the example of the investigated transistors, it is shown that the proposed heuristic model provides the best forecasting results, practically keeping the simplicity of the basic method of threshold logic.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>полупроводниковые приборы</kwd><kwd>надежность</kwd><kwd>индивидуальное прогнозирование</kwd><kwd>информативные параметры</kwd><kwd>прогнозирующее правило</kwd><kwd>прогнозирующая функция</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>semiconductor devices</kwd><kwd>reliability</kwd><kwd>individual prediction</kwd><kwd>informative parameters</kwd><kwd>predictive rule</kwd><kwd>predictive function</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">Работа подготовлена в рамках выполнения проекта № Т20МВ-026 на тему «Прогнозирование эксплуатационной надежности мощных полупроводниковых приборов с использованием методов и алгоритмов машинного обучения», утвержденного научным советом Белорусского республиканского фонда фундаментальных исследований (протокол № 1 от 22.04.2020)</funding-statement><funding-statement xml:lang="en">The article was prepared as part of the project No. Т20МВ-026 on the topic “Predicting the Operational Reliability of Powerful Semiconductor Devices Using Machine Learning Methods and Algorithms”, approved by the Scientific Council of the Belarusian Republican Foundation for Fundamental Research (Protocol No. 1 dated 22.04.2020)</funding-statement></funding-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники. Москва: Новое знание; 2013.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovikov S.M. [Statistical forecasting for the rejection of potentially unreliable electronic products]. Moscow: New Knowledge; 2013. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н., Бересневич А.И. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск: МГВРК; 2010.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovikov S.M., Tsyrelchuk I.N., Shneiderov E.N., Beresnevich A.I. [Predicting the reliability of electronic products]. Minsk: MGVRK; 2010. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков С.М., Бересневич А.И., Хмыль А.А., Емельянов А.В., Цырельчук И.Н. Метод прогнозирования надёжности изделий электронной техники. Доклады Национальной академии наук Беларуси. 2006;50(4):105-109.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovikov S.M., Beresnevich A.I., Khmyl A.A., Emelyanov A.V., Tsyrelchuk I.N. [Method for predicting the reliability of electronic products]. Doklady Natsional’noi akademii nauk Belarusi = Doklady of the National Academy of Sciences of Belarus. 2006;50(4):105-109. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков С.М., Бересневич А.И., Хмыль А.А., Емельянов А.В., Цырельчук И.Н. Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики. Доклады БГУИР. 2006; 2(14): 49-56.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovikov S.M., Beresnevich A.I., Khmyl A.A., Emelyanov A.V., Tsyrelchuk I.N. [Predicting the reliability of electronic products using the threshold logic method]. Doklady BGUIR = Doklady BGUIR. 2006; 2(14): 49-56. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Robinson L.E. Life expectancy in electronic components and 10th rule. Testing. 1998;1:16.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Robinson L.E. Life expectancy in electronic components and 10th rule. Testing. 1998;1:16.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровиков С.М., Казючиц В.О. Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения. Доклады БГУИР. 2021; 19(1): 88-95.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovikov S.M., Kazyuchicz V.O. [Individual prediction of the reliability of semiconductor devices for electronic devices of medical purposes]. Doklady BGUIR = Doklady BGUIR. 2021;19(1):88-95. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
