Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов

https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100

Аннотация

Метод пороговой логики, применяемый для изделий электронной техники при оценке их надежности в виде прогнозирования класса работоспособности изделий для заданной наработки (K1 – класс работоспособных, K0 – класс неработоспособных экземпляров), предусматривает преобразование в двоичный код информативных параметров, полученных в начальный момент времени, и позволяет построить модель прогнозирования в виде таблицы, показывающей, каким комбинациям кода соответствуют экземпляры класса K1. Использование двоичного преобразования упрощает процедуру прогнозирования, но немного снижается достоверность прогнозов. Актуальным является получение модели прогнозирования, обладающей простотой ее применения и обеспечивающей более высокую достоверность прогнозирования класса изделий, нежели при двоичном преобразовании параметров. На примере биполярных транзисторов типа КТ872А установлены закономерности электрических параметров, используемых в качестве информативных, и для их преобразования в код предложено рассматривать три области изменения параметра: первая область – диапазон значений между математическими ожиданиями, полученными отдельно для экземпляров классов K1 и K0; две другие области – значения параметра, находящиеся слева и справа от этого диапазона. Значениям параметра, попадающим в диапазон, присваивается код R (от слова Range – диапазон), за пределами указанного диапазона – код 1 (единица) или 0 (нуль) в зависимости от закономерности информативного параметра. Поясняется, как выполнять преобразование параметров в коды 1, 0 и R и получать модель прогнозирования в виде логической таблицы, построенной из этих кодов. На примере исследуемых транзисторов показано, что предлагаемая эвристическая модель обеспечивает лучшие результаты прогнозирования, практически сохраняя простоту базового метода пороговой логики.

Об авторах

В. О. Казючиц
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

м.т.н., аспирант.

Минск



С. М. Боровиков
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

Боровиков Сергей Максимович - кандидат технических наук, доцент, доцент кафедры проектирования информационно-компьютерных систем.

220013, Минск, ул. П. Бровки, 6, тел. +375-17-293-88-38



Е. Н. Шнейдеров
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

Кандидат технических наук, доцент, проректор по учебной работе.

Минск



Список литературы

1. Боровиков С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники. Москва: Новое знание; 2013.

2. Боровиков С.М., Цырельчук И.Н., Шнейдеров Е.Н., Бересневич А.И. Прогнозирование надежности изделий электронной техники. Минск: МГВРК; 2010.

3. Боровиков С.М., Бересневич А.И., Хмыль А.А., Емельянов А.В., Цырельчук И.Н. Метод прогнозирования надёжности изделий электронной техники. Доклады Национальной академии наук Беларуси. 2006;50(4):105-109.

4. Боровиков С.М., Бересневич А.И., Хмыль А.А., Емельянов А.В., Цырельчук И.Н. Прогнозирование надежности изделий электронной техники методом пороговой логики. Доклады БГУИР. 2006; 2(14): 49-56.

5. Robinson L.E. Life expectancy in electronic components and 10th rule. Testing. 1998;1:16.

6. Боровиков С.М., Казючиц В.О. Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения. Доклады БГУИР. 2021; 19(1): 88-95.


Рецензия

Для цитирования:


Казючиц В.О., Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н. Эвристическая модель прогнозирования работоспособности полупроводниковых приборов. Доклады БГУИР. 2022;20(1):92-100. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100

For citation:


Kaziuchyts V.O., Borovikov S.M., Shneiderov E.N. Heuristic Model of Forecasting of Operating State of Semiconductor Devices. Doklady BGUIR. 2022;20(1):92-100. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2022-20-1-92-100

Просмотров: 1587


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)