Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Галкин Я.Д., Дворников О.В., Чеховский В.А., Прокопенко Н.Н. Экспериментальные исследования и модель двухзатворного JFET для аналоговых интегральных микросхем. Доклады БГУИР. 2021;19(7):5-12. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12

For citation:


Galkin Y.D., Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Prokopenko N.N. Experimental studies and a double gate JFET model for analog integrated circuits. Doklady BGUIR. 2021;19(7):5-12. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12

Просмотров: 13


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)