Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Ярмолик В.Н., Мрозек И., Леванцевич В.А., Деменковец Д.В. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств на базе двойных адресных последовательностей. Доклады БГУИР. 2021;19(4):43-51. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-4-43-51

For citation:


Yarmolik V.N., Mrozek I., Levantsevich V.A., Demenkovets D.V. Transparent memory testing based on dual address sequences. Doklady BGUIR. 2021;19(4):43-51. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-4-43-51

Просмотров: 26


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)