ТЕСТОВОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ АППАРАТНОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ
Аннотация
Кратко изложены основные научные и практические результаты исследований в области тестового диагностирования вычислительных систем, полученные в БГУИР в рамках представляемой научной школы. Приведены основные характеристики оригинальных решений в области стендового оборудования для тестирования цифровых модулей, контролепригодного синтеза вычислительных систем, методов компактного тестирования, теории сигнатурного анализа и методов самотестирования вычислительных машин и систем. Описаны новые оригинальные авторские методы псевдослучайного и вероятностного тестирования, исчерпывающего, псевдоисчерпывающего и почти исчерпывающего тестирования, управляемого случайного тестирования и оптимального управляемого случайного тестирования, а также квазислучайного тестирования программного обеспечения. Представлены результаты посвященные тестированию, самотестированию и саморемонтированию запоминающих устройств, а также неразрушающему тестированию оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) с применением адаптивного сигнатурного анализа и симметричных маршевых тестов ОЗУ. Кроме того, приведены основные результаты по методам обеспечения целостности данных с использованием цифровых водяных знаков и запутывающих преобразований и их применению по обеспечению авторского права на программное обеспечение. Представлены результаты, полученные в области физической криптографии.
Об авторах
В. Н. Ярмолик
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
А. А. Иванюк
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Леусенко А.Е., Ярмолик В.Н., Петровский А.А. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1977. № 12. С. 39-42.
2. Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1979. № 7. С. 3-7.
3. Леусенко А.Е., Петровский А.А., Ярмолик В.Н. // Измерительная техника. 1980. № 10. С. 23-26.
4. Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е., Морозевич А.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1982. № 12. С. 31-34.
5. Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 1. С. 48-52.
6. Havel J, Yarmolik V.N., Morozevich A.N. // Kibernetik. 1983. № 1. P. 58-65.
7. Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1983. № 5. С. 49-55.
8. Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 11. С. 80-82.
9. Ярмолик В.Н. / АиТ. 1983. № 6. С. 155-162.
10. Ярмолик В.Н. // АиТ. 1985. № 1. С. 127-132.
11. Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1985. № 6. С. 51-54.
12. Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1985. № 4. С. 73-79.
13. Ярмолик В.Н., Демиденко С.Н. Генерирование и применение псевдослучайных сигналов в системах испытаний и контроля. Минск, 1986.
14. Ярмолик В.Н. // Радиотехника. 1986. № 6. С. 54-57.
15. Ярмолик В.Н., Кацнельсон Е.И. // АиВТ. 1986. № 4. С. 82-86.
16. Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 1986. № 1. С. 70-76.
17. Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Радиоэлектроника. 1986. № 5. С. 53-58.
18. Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 5. С. 77-81.
19. Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 6. С. 42-46.
20. Yarmolik V.N., Demidenko S.N. Generation and Application of Pseudorandom Sequences for Random Testing. Chichester, 1988.
21. Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. Минск, 1988.
22. Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1988. № 6. С. 69-71.
23. Калоша Е.П., Кацнельсон Е.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 9. С. 160-165.
24. Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Микроэлектроника. 1989. № 3. С. 282-286.
25. Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 10. С. 159-167.
26. Yarmolik V.N. Fault Diagnosis of Digital Circuits. Chichester, 1990.
27. Ярмолик В.Н., Качан И.В. // АиВТ. 1990. № 3. С. 89-95.
28. Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // АиВТ. 1990. № 1. С. 94-95.
29. Ярмолик В.Н., Сагалович Ю.Л. // АиТ. 1990. № 4. С. 155-160.
30. Калоша Е.П., Качан И.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1991. № 1. С. 105-112.
31. Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1991. № 3. С. 79-83.
32. Ярмолик В.Н. // АиТ. 1992. № 1. С. 146-155.
33. Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Электронное моделирование. 1992. № 3. С. 51-56.
34. Ярмолик В.Н., Быков Ю.В. // АиВТ. 1992. № 3. С. 63-67.
35. Yarmolik V.N., Kachan I.V. Self-Testing VLSI Design. Amsterdam, 1993.
36. Ярмолик В. Н., Мурашко И.А. // АиВТ. 1993. № 3. С. 9-13.
37. Закревский Л.А., Калоша Е.П., Качан И.В., Хаткевич Н.Н., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1994. № 1. С. 3-31.
38. Ярмолик В.Н., Меметов Г.Р., Николаидис М. // Микроэлектроника. 1995. № 3. С. 211-215.
39. Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 1996. №.3. P. 251-266.
40. Ярмолик В.Н., Иванюк А.А. // Логическое проектирование. 1997. № 2. С. 170-180.
41. Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // АиВТ. 1997. №5. С. 14-21.
42. Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // Микроэлектроника. 1997. № 2. С. 266-271.
43. Мурашко И.А., Шмидман А.М., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1998. № 7. С. 157-167.
44. Ярмолик В.Н., Иванюк А.А., Янушкевич А.И. // Микроэлектроника. 1998. Т. 27, № 3. С. 194-199.
45. Demidenko S, Yarmolik V., Klimets Y. et. al. // IES J. Elec. and Computer Eng. 1999. № 1. P. 1-5.
46. Закревский Л.А., Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 2. С. 120-128.
47. Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 1. С. 148-158.
48. Jarmolik W, Gruszewski M. // Elektronika. 2001. № 4. P. 26-28.
49. Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том I. Минск, 2001.
50. Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том II. Минск, 2001.
51. Hellebrand S, Wunderlich H.-J., Ivaniuk, A.A. et.al. // IEEE Trans. on Computer. 2002. № 7. P. 801-809.
52. Занкович А.П., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2003. № 9. С. 141-154.
53. Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств. Минск, 2004.
54. Петрик С.Ю., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2004. № 3. C. 58-66.
55. Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2004. № 8. С. 102-114.
56. Ярмолик В.Н., Мурашко И.А., Куммерт А. и др. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств. Минск, 2005.
57. Портянко C.C. Ярмолик В.Н. // Информатика. 2005. № 1. С. 132-138.
58. Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. Проектирование контролепригодных цифровых устройств. Минск, 2006.
59. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2006. № 4. С. 88-96.
60. Ярмолик В.Н., Портянко С.С., Ярмолик С.В. Криптография, стеганография и охрана авторского права. Минск, 2007.
61. Puczko M., Murashko I.A., Yarmolik V.N. // Miesiecznik naukowo-Techniczny: Pomiary Automatyka Kontrola. 2007. № 7. P. 3-5.
62. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2007. № 4. С. 126-137.
63. Mrozek I, Yarmolik V.N. // Elektronika. 2007. № 2. P. 28-31.
64. Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2007. № 3. С. 3-12.
65. Иванюк А.А., Мусин С.Б., Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 2007. Т. 36, № 3. С. 311-318.
66. Ярмолик С.В., Курбацкий А.Н., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 3. С. 15-23.
67. Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 4. С. 5-13.
68. Ярмолик С.В. Курбацкий А.Н. Ярмолик В.Н. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ // Информатика. 2008. №3. С. 90-98.
69. Ivaniuk A.A. // Radioelectronics and Informatics. 2008. № 4. P. 32-37.
70. Ярмолик С.В., Занкович А.П., Иванюк А.А. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ. Минск, 2009.
71. Brzozowski M., Yarmolik V.N. // Informatyka: Zeszyty Naukowe Politechniki Bialostockiej. 2009. № 4. P. 19-30.
72. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2009. № 4. С. 5-13.
73. Mrozek I., Yarmolik V.N. Problemu Funkcjonalnego Testowania Pamieci RAM. Bialystok, 2009.
74. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2009. № 3. С. 27-35.
75. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2010. № 4. С. 54-61.
76. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2010. № 2. С. 66-75.
77. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2011. № 3. С. 19-30.
78. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2011. № 1. С. 79-88.
79. Ярмолик В.Н., Вашинко Ю.Г. // Информатика. 2011. № 2. С. 92-103.
80. Иванюк А.А. // Информатика. 2011. № 4. С. 113-123.
81. Ярмолик С.В. Занкович А.П. Иванюк А.А. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ. Гамбург, 2012.
82. Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Встроенное самотестирование. Методы минимизации энергопотребления. Гамбург, 2012.
83. Иванюк А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем. Минск, 2012.
84. Mrozek I., Yarmolik V.N. // Fundamenta Informaticae. 2012. № 2. P. 1-23.
85. Mrozek I., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 2012. № 3. P. 251-266.
86. Ярмолик С.В. Ярмолик В.Н. // АиТ. 2012. №10. С. 142-155.
87. Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В. // АиВТ. 2013. №5. С. 25-33.
88. Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2013. № 3. С. 92-103.
89. Иванюк А.А. // Информатика. 2013. № 3 (39). С. 82-92.
90. Заливако С.С., Иванюк А.А. // Докл. БГУИР. 2013. № 7. С. 37-43.
Рецензия
Для цитирования:
Ярмолик В.Н., Иванюк А.А. ТЕСТОВОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ АППАРАТНОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ. Доклады БГУИР. 2014;(2):127-142.
For citation:
Yarmolik V.N., Ivaniuk A.A. TEST DIAGNOSTICS OF COMPUTER SYSTEMS HARDWARE AND SOFTWARE. Doklady BGUIR. 2014;(2):127-142. (In Russ.)
Просмотров: 1409
Послать статью по эл. почте 