bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-292Research ArticleСтатьиТЕСТОВОЕ ДИАГНОСТИРОВАНИЕ АППАРАТНОГО И ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМTEST DIAGNOSTICS OF COMPUTER SYSTEMS HARDWARE AND SOFTWAREЯрмоликВ. Н.YarmolikV. N.noemail@neicon.ruИванюкА. А.IvaniukA. A.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20140306201902127142Copyright © Ярмолик В.Н., Иванюк А.А., 20192019Ярмолик В.Н., Иванюк А.А.Yarmolik V.N., Ivaniuk A.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/292

Кратко изложены основные научные и практические результаты исследований в области тестового диагностирования вычислительных систем, полученные в БГУИР в рамках представляемой научной школы. Приведены основные характеристики оригинальных решений в области стендового оборудования для тестирования цифровых модулей, контролепригодного синтеза вычислительных систем, методов компактного тестирования, теории сигнатурного анализа и методов самотестирования вычислительных машин и систем. Описаны новые оригинальные авторские методы псевдослучайного и вероятностного тестирования, исчерпывающего, псевдоисчерпывающего и почти исчерпывающего тестирования, управляемого случайного тестирования и оптимального управляемого случайного тестирования, а также квазислучайного тестирования программного обеспечения. Представлены результаты посвященные тестированию, самотестированию и саморемонтированию запоминающих устройств, а также неразрушающему тестированию оперативных запоминающих устройств (ОЗУ) с применением адаптивного сигнатурного анализа и симметричных маршевых тестов ОЗУ. Кроме того, приведены основные результаты по методам обеспечения целостности данных с использованием цифровых водяных знаков и запутывающих преобразований и их применению по обеспечению авторского права на программное обеспечение. Представлены результаты, полученные в области физической криптографии.

The main scientific and practical results on test diagnostics of hardware and software of computer systems are presented in brief history. More than 500 international and local publications including 17 books and 72 invention certificates reinforce the scientific results. The current state of research and a plan of future research of laboratory are presented.

тестовые последовательностипсевдослучайные последовательностиквазислучайные последовательностисигнатурный анализадаптивный сигнатурный анализвероятностное тестированиеReferencesЛеусенко А.Е., Ярмолик В.Н., Петровский А.А. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1977. № 12. С. 39-42.Леусенко А.Е., Ярмолик В.Н., Петровский А.А. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1977. № 12. С. 39-42.Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1979. № 7. С. 3-7.Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1979. № 7. С. 3-7.Леусенко А.Е., Петровский А.А., Ярмолик В.Н. // Измерительная техника. 1980. № 10. С. 23-26.Леусенко А.Е., Петровский А.А., Ярмолик В.Н. // Измерительная техника. 1980. № 10. С. 23-26.Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е., Морозевич А.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1982. № 12. С. 31-34.Ярмолик В.Н., Леусенко А.Е., Морозевич А.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1982. № 12. С. 31-34.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 1. С. 48-52.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 1. С. 48-52.Havel J, Yarmolik V.N., Morozevich A.N. // Kibernetik. 1983. № 1. P. 58-65.Havel J, Yarmolik V.N., Morozevich A.N. // Kibernetik. 1983. № 1. P. 58-65.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1983. № 5. С. 49-55.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1983. № 5. С. 49-55.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 11. С. 80-82.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Приборостроение. 1983. № 11. С. 80-82.Ярмолик В.Н. / АиТ. 1983. № 6. С. 155-162.Ярмолик В.Н. / АиТ. 1983. № 6. С. 155-162.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1985. № 1. С. 127-132.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1985. № 1. С. 127-132.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1985. № 6. С. 51-54.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1985. № 6. С. 51-54.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1985. № 4. С. 73-79.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1985. № 4. С. 73-79.Ярмолик В.Н., Демиденко С.Н. Генерирование и применение псевдослучайных сигналов в системах испытаний и контроля. Минск, 1986.Ярмолик В.Н., Демиденко С.Н. Генерирование и применение псевдослучайных сигналов в системах испытаний и контроля. Минск, 1986.Ярмолик В.Н. // Радиотехника. 1986. № 6. С. 54-57.Ярмолик В.Н. // Радиотехника. 1986. № 6. С. 54-57.Ярмолик В.Н., Кацнельсон Е.И. // АиВТ. 1986. № 4. С. 82-86.Ярмолик В.Н., Кацнельсон Е.И. // АиВТ. 1986. № 4. С. 82-86.Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 1986. № 1. С. 70-76.Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 1986. № 1. С. 70-76.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Радиоэлектроника. 1986. № 5. С. 53-58.Ярмолик В.Н. // Изв. ВУЗов. Радиоэлектроника. 1986. № 5. С. 53-58.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 5. С. 77-81.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 5. С. 77-81.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 6. С. 42-46.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1987. № 6. С. 42-46.Yarmolik V.N., Demidenko S.N. Generation and Application of Pseudorandom Sequences for Random Testing. Chichester, 1988.Yarmolik V.N., Demidenko S.N. Generation and Application of Pseudorandom Sequences for Random Testing. Chichester, 1988.Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. Минск, 1988.Ярмолик В.Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. Минск, 1988.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1988. № 6. С. 69-71.Ярмолик В.Н. // Электронное моделирование. 1988. № 6. С. 69-71.Калоша Е.П., Кацнельсон Е.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 9. С. 160-165.Калоша Е.П., Кацнельсон Е.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 9. С. 160-165.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Микроэлектроника. 1989. № 3. С. 282-286.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Микроэлектроника. 1989. № 3. С. 282-286.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 10. С. 159-167.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1989. № 10. С. 159-167.Yarmolik V.N. Fault Diagnosis of Digital Circuits. Chichester, 1990.Yarmolik V.N. Fault Diagnosis of Digital Circuits. Chichester, 1990.Ярмолик В.Н., Качан И.В. // АиВТ. 1990. № 3. С. 89-95.Ярмолик В.Н., Качан И.В. // АиВТ. 1990. № 3. С. 89-95.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // АиВТ. 1990. № 1. С. 94-95.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // АиВТ. 1990. № 1. С. 94-95.Ярмолик В.Н., Сагалович Ю.Л. // АиТ. 1990. № 4. С. 155-160.Ярмолик В.Н., Сагалович Ю.Л. // АиТ. 1990. № 4. С. 155-160.Калоша Е.П., Качан И.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1991. № 1. С. 105-112.Калоша Е.П., Качан И.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1991. № 1. С. 105-112.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1991. № 3. С. 79-83.Ярмолик В.Н. // АиВТ. 1991. № 3. С. 79-83.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1992. № 1. С. 146-155.Ярмолик В.Н. // АиТ. 1992. № 1. С. 146-155.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Электронное моделирование. 1992. № 3. С. 51-56.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П. // Электронное моделирование. 1992. № 3. С. 51-56.Ярмолик В.Н., Быков Ю.В. // АиВТ. 1992. № 3. С. 63-67.Ярмолик В.Н., Быков Ю.В. // АиВТ. 1992. № 3. С. 63-67.Yarmolik V.N., Kachan I.V. Self-Testing VLSI Design. Amsterdam, 1993.Yarmolik V.N., Kachan I.V. Self-Testing VLSI Design. Amsterdam, 1993.Ярмолик В. Н., Мурашко И.А. // АиВТ. 1993. № 3. С. 9-13.Ярмолик В. Н., Мурашко И.А. // АиВТ. 1993. № 3. С. 9-13.Закревский Л.А., Калоша Е.П., Качан И.В., Хаткевич Н.Н., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1994. № 1. С. 3-31.Закревский Л.А., Калоша Е.П., Качан И.В., Хаткевич Н.Н., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1994. № 1. С. 3-31.Ярмолик В.Н., Меметов Г.Р., Николаидис М. // Микроэлектроника. 1995. № 3. С. 211-215.Ярмолик В.Н., Меметов Г.Р., Николаидис М. // Микроэлектроника. 1995. № 3. С. 211-215.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 1996. №.3. P. 251-266.Karpovsky M.G., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 1996. №.3. P. 251-266.Ярмолик В.Н., Иванюк А.А. // Логическое проектирование. 1997. № 2. С. 170-180.Ярмолик В.Н., Иванюк А.А. // Логическое проектирование. 1997. № 2. С. 170-180.Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // АиВТ. 1997. №5. С. 14-21.Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // АиВТ. 1997. №5. С. 14-21.Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // Микроэлектроника. 1997. № 2. С. 266-271.Ярмолик В. Н., Климец Ю. В., Гор Э. Ван де. // Микроэлектроника. 1997. № 2. С. 266-271.Мурашко И.А., Шмидман А.М., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1998. № 7. С. 157-167.Мурашко И.А., Шмидман А.М., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1998. № 7. С. 157-167.Ярмолик В.Н., Иванюк А.А., Янушкевич А.И. // Микроэлектроника. 1998. Т. 27, № 3. С. 194-199.Ярмолик В.Н., Иванюк А.А., Янушкевич А.И. // Микроэлектроника. 1998. Т. 27, № 3. С. 194-199.Demidenko S, Yarmolik V., Klimets Y. et. al. // IES J. Elec. and Computer Eng. 1999. № 1. P. 1-5.Demidenko S, Yarmolik V., Klimets Y. et. al. // IES J. Elec. and Computer Eng. 1999. № 1. P. 1-5.Закревский Л.А., Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 2. С. 120-128.Закревский Л.А., Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 2. С. 120-128.Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 1. С. 148-158.Иванюк А.А., Янушкевич А.И., Ярмолик В.Н. // АиТ. 1999. № 1. С. 148-158.Jarmolik W, Gruszewski M. // Elektronika. 2001. № 4. P. 26-28.Jarmolik W, Gruszewski M. // Elektronika. 2001. № 4. P. 26-28.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том I. Минск, 2001.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том I. Минск, 2001.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том II. Минск, 2001.Ярмолик В.Н., Калоша Е.П., Быков Ю.В. и др. Проектирование самотестируемых СБИС. Том II. Минск, 2001.Hellebrand S, Wunderlich H.-J., Ivaniuk, A.A. et.al. // IEEE Trans. on Computer. 2002. № 7. P. 801-809.Hellebrand S, Wunderlich H.-J., Ivaniuk, A.A. et.al. // IEEE Trans. on Computer. 2002. № 7. P. 801-809.Занкович А.П., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2003. № 9. С. 141-154.Занкович А.П., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2003. № 9. С. 141-154.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств. Минск, 2004.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Методы минимизации энергопотребления при самотестировании цифровых устройств. Минск, 2004.Петрик С.Ю., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2004. № 3. C. 58-66.Петрик С.Ю., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2004. № 3. C. 58-66.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2004. № 8. С. 102-114.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2004. № 8. С. 102-114.Ярмолик В.Н., Мурашко И.А., Куммерт А. и др. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств. Минск, 2005.Ярмолик В.Н., Мурашко И.А., Куммерт А. и др. Неразрушающее тестирование запоминающих устройств. Минск, 2005.Портянко C.C. Ярмолик В.Н. // Информатика. 2005. № 1. С. 132-138.Портянко C.C. Ярмолик В.Н. // Информатика. 2005. № 1. С. 132-138.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. Проектирование контролепригодных цифровых устройств. Минск, 2006.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. Проектирование контролепригодных цифровых устройств. Минск, 2006.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2006. № 4. С. 88-96.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2006. № 4. С. 88-96.Ярмолик В.Н., Портянко С.С., Ярмолик С.В. Криптография, стеганография и охрана авторского права. Минск, 2007.Ярмолик В.Н., Портянко С.С., Ярмолик С.В. Криптография, стеганография и охрана авторского права. Минск, 2007.Puczko M., Murashko I.A., Yarmolik V.N. // Miesiecznik naukowo-Techniczny: Pomiary Automatyka Kontrola. 2007. № 7. P. 3-5.Puczko M., Murashko I.A., Yarmolik V.N. // Miesiecznik naukowo-Techniczny: Pomiary Automatyka Kontrola. 2007. № 7. P. 3-5.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2007. № 4. С. 126-137.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиТ. 2007. № 4. С. 126-137.Mrozek I, Yarmolik V.N. // Elektronika. 2007. № 2. P. 28-31.Mrozek I, Yarmolik V.N. // Elektronika. 2007. № 2. P. 28-31.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2007. № 3. С. 3-12.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2007. № 3. С. 3-12.Иванюк А.А., Мусин С.Б., Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 2007. Т. 36, № 3. С. 311-318.Иванюк А.А., Мусин С.Б., Ярмолик В.Н. // Микроэлектроника. 2007. Т. 36, № 3. С. 311-318.Ярмолик С.В., Курбацкий А.Н., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 3. С. 15-23.Ярмолик С.В., Курбацкий А.Н., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 3. С. 15-23.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 4. С. 5-13.Иванюк А.А., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2008. № 4. С. 5-13.Ярмолик С.В. Курбацкий А.Н. Ярмолик В.Н. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ // Информатика. 2008. №3. С. 90-98.Ярмолик С.В. Курбацкий А.Н. Ярмолик В.Н. Анализ количественных характеристик различия при тестировании ОЗУ // Информатика. 2008. №3. С. 90-98.Ivaniuk A.A. // Radioelectronics and Informatics. 2008. № 4. P. 32-37.Ivaniuk A.A. // Radioelectronics and Informatics. 2008. № 4. P. 32-37.Ярмолик С.В., Занкович А.П., Иванюк А.А. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ. Минск, 2009.Ярмолик С.В., Занкович А.П., Иванюк А.А. Маршевые тесты для самотестирования ОЗУ. Минск, 2009.Brzozowski M., Yarmolik V.N. // Informatyka: Zeszyty Naukowe Politechniki Bialostockiej. 2009. № 4. P. 19-30.Brzozowski M., Yarmolik V.N. // Informatyka: Zeszyty Naukowe Politechniki Bialostockiej. 2009. № 4. P. 19-30.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2009. № 4. С. 5-13.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2009. № 4. С. 5-13.Mrozek I., Yarmolik V.N. Problemu Funkcjonalnego Testowania Pamieci RAM. Bialystok, 2009.Mrozek I., Yarmolik V.N. Problemu Funkcjonalnego Testowania Pamieci RAM. Bialystok, 2009.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2009. № 3. С. 27-35.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2009. № 3. С. 27-35.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2010. № 4. С. 54-61.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2010. № 4. С. 54-61.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2010. № 2. С. 66-75.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2010. № 2. С. 66-75.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2011. № 3. С. 19-30.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // АиВТ. 2011. № 3. С. 19-30.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2011. № 1. С. 79-88.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2011. № 1. С. 79-88.Ярмолик В.Н., Вашинко Ю.Г. // Информатика. 2011. № 2. С. 92-103.Ярмолик В.Н., Вашинко Ю.Г. // Информатика. 2011. № 2. С. 92-103.Иванюк А.А. // Информатика. 2011. № 4. С. 113-123.Иванюк А.А. // Информатика. 2011. № 4. С. 113-123.Ярмолик С.В. Занкович А.П. Иванюк А.А. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ. Гамбург, 2012.Ярмолик С.В. Занкович А.П. Иванюк А.А. Маршевые тесты для тестирования ОЗУ. Гамбург, 2012.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Встроенное самотестирование. Методы минимизации энергопотребления. Гамбург, 2012.Мурашко И.А., Ярмолик В.Н. Встроенное самотестирование. Методы минимизации энергопотребления. Гамбург, 2012.Иванюк А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем. Минск, 2012.Иванюк А.А. Проектирование встраиваемых цифровых устройств и систем. Минск, 2012.Mrozek I., Yarmolik V.N. // Fundamenta Informaticae. 2012. № 2. P. 1-23.Mrozek I., Yarmolik V.N. // Fundamenta Informaticae. 2012. № 2. P. 1-23.Mrozek I., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 2012. № 3. P. 251-266.Mrozek I., Yarmolik V.N. // IEEE J. Elec. Test: Theory and Applications. 2012. № 3. P. 251-266.Ярмолик С.В. Ярмолик В.Н. // АиТ. 2012. №10. С. 142-155.Ярмолик С.В. Ярмолик В.Н. // АиТ. 2012. №10. С. 142-155.Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В. // АиВТ. 2013. №5. С. 25-33.Ярмолик В.Н., Ярмолик С.В. // АиВТ. 2013. №5. С. 25-33.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2013. № 3. С. 92-103.Ярмолик С.В., Ярмолик В.Н. // Информатика. 2013. № 3. С. 92-103.Иванюк А.А. // Информатика. 2013. № 3 (39). С. 82-92.Иванюк А.А. // Информатика. 2013. № 3 (39). С. 82-92.Заливако С.С., Иванюк А.А. // Докл. БГУИР. 2013. № 7. С. 37-43.Заливако С.С., Иванюк А.А. // Докл. БГУИР. 2013. № 7. С. 37-43.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.