Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ПРЕДВАРИТЕЛЬНАЯ ОБРАБОТКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ДАННЫХ В СТАТИСТИЧЕСКОМ ПРОЕКТИРОВАНИИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ

Аннотация

Представлены результаты исследований по выбору и практической реализации математических методов предварительного анализа и статистической обработки экспериментальных данных, полученных при обработке и интерпретации промышленных измерений результатов формирования элементов интегральных микросхем (ИМС). Предлагаемая методика позволяет исключать аномальные наблюдения в выборочных данных и проводить процедуру сглаживания результатов измерения или моделирования.

Для цитирования:


Павлов П.Г., Чан Т.Ч., Костров А.И., Нелаев В.В., Стемпицкий В.Р. ПРЕДВАРИТЕЛЬНАЯ ОБРАБОТКА ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ДАННЫХ В СТАТИСТИЧЕСКОМ ПРОЕКТИРОВАНИИ ИЗДЕЛИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ. Доклады БГУИР. 2013;(2):14-20.

For citation:


Pavlov P.G., Tran T.T., Kostrov A.I., Nelayev V.V., Stempitsky V.R. PRELIMINARY EXPERIMENTAL DATA PROCESSING IN STATISTICAL IC DESIGN. Doklady BGUIR. 2013;(2):14-20. (In Russ.)

Просмотров: 4702


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)