IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS
Abstract
The crucial problem of ensuring operational reliability of modern radio electronic equipment is the problem of detecting the integrated circuits with latent (not obvious) defects in the course of production. Such defects shall not be revealed through standard checking procedures specified in standard normative technical documentation.
About the Authors
A. I. Belous
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Belarus
Belarus
A. V. Prybylski
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Belarus
Belarus
References
1. Мурога С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем. М., 1985.
2. Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.
3. Стемпковский А.Л. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС. М., 2007.
4. Никитин В.А. Схемотехника интегральных схем ТТЛ, ТТЛШ и КМОП. М., 2010.
Review
For citations:
Belous A.I., Prybylski A.V. IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS. Doklady BGUIR. 2012;(7):61-64. (In Russ.)
Views: 379
Email this article 