Для цитирования:

Белоус А.И., Прибыльский А.В. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ. Доклады БГУИР. 2012;(7):61-64.

For citation:

Belous A.I., Prybylski A.V. IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS. Doklady BGUIR. 2012;(7):61-64. (In Russ.)