Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Белоус А.И., Прибыльский А.В. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ. Доклады БГУИР. 2012;(7):61-64.

For citation:


Belous A.I., Prybylski A.V. IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS. Doklady BGUIR. 2012;(7):61-64. (In Russ.)

Просмотров: 7


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)