bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-105Research ArticleСтатьиОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМIDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTSБелоусА. И.BelousA. I.noemail@neicon.ruПрибыльскийА. В.PrybylskiA. V.noemail@neicon.ruОАО «ИНТЕГРАЛ»BelarusБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus201203062019076164Copyright © Белоус А.И., Прибыльский А.В., 20192019Белоус А.И., Прибыльский А.В.Belous A.I., Prybylski A.V.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/105

Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации.

The crucial problem of ensuring operational reliability of modern radio electronic equipment is the problem of detecting the integrated circuits with latent (not obvious) defects in the course of production. Such defects shall not be revealed through standard checking procedures specified in standard normative technical documentation.

скрытый дефектэксплуатационная надежностьинтегральная схемаотбраковкавыходной контрольскрытый дефектэксплуатационная надежностьинтегральная схемаотбраковкавыходной контрольReferencesМурога С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем. М., 1985.Мурога С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем. М., 1985.Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.Стемпковский А.Л. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС. М., 2007.Стемпковский А.Л. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС. М., 2007.Никитин В.А. Схемотехника интегральных схем ТТЛ, ТТЛШ и КМОП. М., 2010.Никитин В.А. Схемотехника интегральных схем ТТЛ, ТТЛШ и КМОП. М., 2010.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.