Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ

Полный текст:

Аннотация

Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации.

Об авторах

А. И. Белоус
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Беларусь


А. В. Прибыльский
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Мурога С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем. М., 1985.

2. Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.

3. Стемпковский А.Л. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС. М., 2007.

4. Никитин В.А. Схемотехника интегральных схем ТТЛ, ТТЛШ и КМОП. М., 2010.


Для цитирования:


Белоус А.И., Прибыльский А.В. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ. Доклады БГУИР. 2012;(7):61-64.

For citation:


Belous A.I., Prybylski A.V. IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS. Doklady BGUIR. 2012;(7):61-64. (In Russ.)

Просмотров: 62


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)