ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ
Аннотация
Важнейшей проблемой обеспечения эксплуатационной надежности современной радиоэлектронной аппаратуры является проблема обнаружения в процессе производства интегральных схем, имеющих скрытые (неявные) дефекты. Такие дефекты не выявляются обычными видами контроля, заложенными в нормативной технической документации.
Об авторах
А. И. Белоус
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Беларусь
Беларусь
А. В. Прибыльский
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Мурога С. Системное проектирование сверхбольших интегральных схем. М., 1985.
2. Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.
3. Стемпковский А.Л. Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС. М., 2007.
4. Никитин В.А. Схемотехника интегральных схем ТТЛ, ТТЛШ и КМОП. М., 2010.
Рецензия
Для цитирования:
Белоус А.И., Прибыльский А.В. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЭФФИЦИЕНТОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ВЫХОДНЫХ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ К ВНУТРЕННИМ ДЕФЕКТАМ. Доклады БГУИР. 2012;(7):61-64.
For citation:
Belous A.I., Prybylski A.V. IDENTIFICATION OF SENSITIVITY FACTORS OF IC OUTPUT PARAMETERS TO INTERNAL DEFECTS. Doklady BGUIR. 2012;(7):61-64. (In Russ.)
Просмотров: 378
Послать статью по эл. почте 