Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


., . . Доклады БГУИР. 2017;(7):20-24.

For citation:


Velichko O.I., Aksenov V.V. ANALYTICAL SOLUTION OF EQUATIONS SET DESCRIBING DIFFUSION OF POINT DEFECTS IN THE 2-LAYER SEMICONDUCTOR STRUCTURE. Doklady BGUIR. 2017;(7):20-24. (In Russ.)

Просмотров: 5


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)