ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ И ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КОМПОЗИТОВ Pb_0,85Zr_0,53Ti_0,47O₃ - Sr₂FeMoO_6-δ

C помощью комплексной керамической технологии и цитрат-гель синтеза изготовлены ферромагнитно-сегнетоэлектрические композиционные материалы на основе соединения Pb0,85Zr0,53Ti0,47O3-Sr2FeMoO6-δ (ЦТС-SFMO). Установлено, что диэлектрическая проницаемость образца с содержанием ЦТС - 55 вес. % и SFMO - 45 вес. % возрастает с температурой, вследствие роста электропроводности и влияния диэлектрической дисперсии, обусловленной релаксацией Максвелла - Вагнера. Электропроводность образца с содержанием ЦТС - 35 вес. % и SFMO - 65 вес. % имеет явно выраженную зависимость от частоты ниже температуры 600 K, в то время как при более высоких температурах электропроводность почти не зависит от частоты в диапазоне 20 Гц - 1 МГц. Это связано с существенным уменьшением критической частоты при более высоких температурах. При частотах выше 100 кГц и температуре ниже 600 K электропроводность возрастает по степенному закону.

ферромолибдат стронция, титанат-цирконат свинца бария, композиционные материалы, электропроводность, диэлектрическая проницаемость

1. Коротков Л.Н., Ситников А.В., Тарасов Д.П. // ЖТФ. 2011. Т. 81, № 4. С. 124-127

2. Bartkowska J.A., Bochenek D., Michalik D. et.al. // Ceramic Materials. 2014. Vol. 66. P. 229-234

3. Окадзаки К. Технология керамических диэлектриков. М., 1976.

4. Ma W., Cross L.E. // Applied Physics Letters. 2003. Vol. 82, № 19. P. 32934-32942.

5. Гурский Л.И., Каланда Н.А., Демьянов С.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2011. № 3 (57). С. 44-49.

6. Ротенберг Б.А. Керамические конденсаторные диэлектрики. СПб, 2000.

7. Petrov А., Klimsa A.A., Gurskii L.I. et al. // Сб. матер. Междунар. конф. «Nanomeeting-2011». Минск, 24-27 мая 2011 г. C. 226-229.

8. Whatmore R.W. // Ferroelectrics. 1999. Vol. 225. P. 179-195.

9. Suchaneck G., Gerlach G. // Ferroelectrics. 2006. Vol. 335. P. 701-710.

10. Damjanovic D. // Reports on Progress in Physics. 1998. Vol. 61. P. 1267-1293.

11. Zhang Q.M., Cao W., Zhao J. et. al. // IEEE Trans. Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control. 1994. Vol. 41. P. 556-564.

12. Ledermann N., Muralt P., Babowski J. et al. // Sensors and Actuators. 2003. Vol. A105. P. 162-171.

13. Niebieskikwiat D., Prado F., Caneiro A. et. al. // Phys. Rev. 2004. Vol. B 70. P. 132412.

14. Sarma D. D., Mahadevan P., Ray S. et. al. // Phys. Rev. Lett. 2000. Vol. 85. P. 2549-2552.

15. Klencsar Z., Nemeth Z., Vertes A. et al. // J. Magn. Mater. 2004. Vol. 281. P. 115-123.

16. Ritter C., Ibarra M.R., Morellon L. et al. // J. Phys.: Condens. Matter. 2000. Vol.12. P. 8295-8308.

17. Cai T.-Y., Li Z.-Y. // J. Phys. Condens. Matter. 2004. Vol. 16. P. 3737-3744.

18. Suominen T., Raittila J., Salminen T. et al. // J. Magn. Mater. 2007. Vol. 309. P. 278-284.

19. Yuan C.L., Zhu Y., Ong P.P. // J. Appl. Phys. 2002. Vol. 91. P. 4421-4425.

20. Poddar A., Bhowmik R.N., Muthuselvam I.P. et al. // J. Appl. Phys. 2009. Vol. 106. P. 073908-1-073908-8.

21. Liu J., Duan Ch. G., Yin W. G. et al. // Phys. Rev. B. 2004. Vol. 70. P. 44106-44112.

22. Atif M., Nadeem M. // Journ. of Alloys and Compounds. 2015. Vol. 623. P. 447-458.