Для цитирования:

Волкенштейн С.С., Дайняк И.В., Хмыль А.А. СРАВНИТЕЛЬНАЯ ОЦЕНКА АЛЬТЕРНАТИВНЫХ МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА И ДИАГНОСТИКИ МОНТАЖНЫХ КОНСТРУКЦИЙ «П/П КРИСТАЛЛ - ПОДЛОЖКА». Доклады БГУИР. 2016;(2):51-55.

For citation:

Wolkenstein S.S., Dayniak I.V., Khmyl A.A. COMPARATIVE ESTIMATION OF SEMICONDUCTOR DICE MOUNTING ALTERNATE NONDESTRUCTIVE EVALUATION METHODS. Doklady BGUIR. 2016;(2):51-55. (In Russ.)