Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

СРАВНИТЕЛЬНАЯ ОЦЕНКА АЛЬТЕРНАТИВНЫХ МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА И ДИАГНОСТИКИ МОНТАЖНЫХ КОНСТРУКЦИЙ «П/П КРИСТАЛЛ - ПОДЛОЖКА»

Полный текст:

Аннотация

Лазерная микроинтерферометрия является традиционным методом неразрушающего контроля и имеет очень высокую чувствительность к нарушению сплошности неразъемных соединений этих конструкций. Ее возможности были ранее расширены применительно к изучению особенностей монтажных конструкций «п/п кристалл-подложка», что дало возможность оценить их устойчивость к механическим, электрическим и тепловым нагрузкам и прогнозировать эксплуатационную надежность готовых изделий электронной техники и микроэлектроники. Достоверность и практическая целесообразность применения вышеуказанного метода были метрологически доказаны. Основываясь на высокой чувствительности и отталкиваясь от метрологически доказанной достоверности лазерной микроинтерферометрии, была подтверждена достоверность вновь разработанного высокочувствительного метода лазерной фотоакустической интроскопии в области «тонких» структур несплошности неразъемных соединений данных конструкций. Сравнительный анализ вышеупомянутых методов проводился на основе корреляционного анализа.

Об авторах

С. С. Волкенштейн
ОАО «Планар-СО»
Беларусь


И. В. Дайняк
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


А. А. Хмыль
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Рети П. Неразрушающие методы контроля металлов. М., 1972.

2. Волкенштейн С. С., Хмыль А.А. // Докл. БГУИР. 2010. № 7 (53). С. 44-52.

3. Научно-технический отчет по НИР «Исследование технологических приемов автоматизированной сборки ГИС и БИС». № госрегистрации У99678. Минск, 1984.

4. Карпович-Каспжак О. С., Дайняк И. В., Генов А. В. // Изв. Белорус. инж. акад. 2005. № 1(19)/1. С. 84-86

5. Волкенштейн С. С., Ланин В.Л., Хмыль А.А. // Компоненты и технологии. 2007. № 11. С. 154-158.


Для цитирования:


Волкенштейн С.С., Дайняк И.В., Хмыль А.А. СРАВНИТЕЛЬНАЯ ОЦЕНКА АЛЬТЕРНАТИВНЫХ МЕТОДОВ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА И ДИАГНОСТИКИ МОНТАЖНЫХ КОНСТРУКЦИЙ «П/П КРИСТАЛЛ - ПОДЛОЖКА». Доклады БГУИР. 2016;(2):51-55.

For citation:


Wolkenstein S.S., Dayniak I.V., Khmyl A.A. COMPARATIVE ESTIMATION OF SEMICONDUCTOR DICE MOUNTING ALTERNATE NONDESTRUCTIVE EVALUATION METHODS. Doklady BGUIR. 2016;(2):51-55. (In Russ.)

Просмотров: 38


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)