СТРУКТУРНЫЕ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК Cux
Inx
Zn2-2x
Se2, ПОЛУЧЕННЫХ НА ГИБКИХ ПОДЛОЖКАХ
Аннотация
На подложках из Ti, анодированного алюминия, молибдена и нержавеющей стали сформированы тонкие пленки Cux Inx Zn2-2x Se2. Проведено исследование влияния условий синтеза и материала подложки на микроструктурные свойства и морфологию материалов.
Об авторах
В. В. Хорошко
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
И. Н. Цырельчук
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
В. Ф. Гременок
ГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению»
Беларусь
В. В. Шаталова
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Список литературы
1. Datasheet // Stion Corporation. [Electronic resource]. - Mode of access: http://www.stion.com/wp-content/uploads/2015/05 Stion_Elevation4_ Framed_300-100-002_RevA.pdf. - Date of access: 20.07.2015.
2. Цырельчук И.Н., Хорошко В.В., Гременок В.Ф. и др. // Докл. БГУИР. 2013. № 8 (78). С. 95-100.
3. Bodnar I.V., Gremenok V.F., Schmitz W. et. al. // J. of Crystal Research and Technology. 2004. Vol. 39, № 4. P. 301-307.
4. Гременок В.Ф., Зарецкая Е.П., Сергеева О.Н. // Журнал поверхность. 2004. № 7. С. 45-50.
5. Zaretskaya E.P., Gremenok V.F., Zalesski V.B. et. al. // Raman scattering evaluation of Zn2-2xCuxInxSe2 thin films prepared by selenisation. Abstract to19th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Paris, 7-11 June 2004.
Для цитирования:
Хорошко В.В.,
Цырельчук И.Н.,
Гременок В.Ф.,
Шаталова В.В.
СТРУКТУРНЫЕ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК Cux
Inx
Zn2-2x
Se2, ПОЛУЧЕННЫХ НА ГИБКИХ ПОДЛОЖКАХ. Доклады БГУИР. 2015;(8):71-75.
For citation:
Khoroshko V.V.,
Tsyrelchuk I.N.,
Gremenok V.F.,
Shatalova V.V.
Structural and morphological properties of thin films Cux
Inx
Zn2-2x
Se2 on flexible substrates. Doklady BGUIR. 2015;(8):71-75.
(In Russ.)
Просмотров: 400
Послать статью по эл. почте 