Экспериментальные исследования и модель двухзатворного JFET для аналоговых интегральных микросхем
https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12
Аннотация
Одним из направлений улучшения параметров аналоговых интегральных микросхем является разработка новых и модернизация существующих конструкций интегральных элементов без значительного изменения технологического маршрута изготовления интегральных микросхем с одновременным созданием моделей новых интегральных элементов. В статье рассмотрены результаты экспериментальных исследований двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, изготовленного по технологическому маршруту 3CBiT ОАО «Интеграл». На основе полученных результатов предложена электрическая модель двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, описывающая особенности его применения в аналоговых интегральных микросхемах. Приведено сравнение результатов измерений и моделирования вольтамперных характеристик с использованием созданной модели при разных режимах управления затворами. Малая емкость и обратный ток верхнего затвора двухзатворного полевого транзистора с управляющим p-n-переходом, возможность компенсации постоянной составляющей входного тока обеспечивают значительное улучшение характеристик таких аналоговых интегральных микросхем, как электрометрические операционные усилители и зарядочувствительные усилители. Разработанный двухзатворный полевой транзистор с управляющим p-n-переходом может найти применение в устройствах считывания сигналов, необходимых в аналоговых интерфейсах датчиков космического приборостроения и ядерной электроники.
Об авторах
Я. Д. ГалкинБеларусь
Галкин Я.Д., аспирант, младший научный сотрудник лаборатории электронных методов и средств эксперимента
220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6
тел. +375-257-250-775
О. В. Дворников
Беларусь
Дворников О.В., д.т.н., доцент, главный научный сотрудник
г. Минск
В. А. Чеховский
Беларусь
Чеховский В.А., заведующий лабораторией электронных методов и средств эксперимента
г. Минск
Н. Н. Прокопенко
Россия
Прокопенко Н.Н., д.т.н., профессор, заведующий кафедрой информационных систем и радиотехники
г. Ростов-на-Дону
Список литературы
1. Close J.P., Counts L.W. A 50-fA junction-isolated operational amplifier. IEEE Journal of Solid – State Circuits. 1988; 23(3):843-851. DOI: 10.1109/4.328.
2. Nanver L.K. and Goudena E.J.G. Design considerations for integrated high-frequency p-channel JFETs. IEEE Transactions on Electron Devices. 1988;35(11):1924-1934. DOI: 10.1109/16.7406.
3. Fazzi A., Rehak P. «Gate-to-gate» BJT obtained from the double-gate input JFET to reset charge preamplifiers. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 1996;A377:453-458. DOI: https://doi.org/10.1016/0168-9002(96)00238-0.
4. Fazzi A., Rehak P. A double-gate double-feedback JFET charge-sensitive preamplifier. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 1996;A380(1-2):346-349. DOI: https://doi.org/10.1016/S0168-9002(96)00355-5.
5. Baturitsky M.A., Dvornikov O.V. The double-gate p-JFET-inputted amplifier for low-capacitance detectors. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 1998;419(1):99-104. DOI: https://doi.org/10.1016/S0168-9002(98)00900-0.
6. Makris N., Bucher M., Jazaeri F., Sallese J. A Compact Model for Static and Dynamic Operation of Symmetric Double-Gate Junction FETs. 2018 48th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC). 2018;238-241. DOI: 10.1109/essderc.2018.8486848.
7. Petrosyants K.O., Ismail-Zade M.R., Sambursky L. Compact Si JFET model for cryogenic temperature. Cryogenics. 2020; 108:1-6. DOI: https://doi.org/10.1016/j.cryogenics.2020.103069.
8. Прокопенко Н.Н., Дворников О.В., Бугакова А.В. Проектирование низкотемпературных и радиационностойких аналоговых микросхем для обработки сигналов датчиков. Москва: СОЛОН-Пресс; 2021.
9. Абрамов И.И., Дворников О.В. Проектирование аналоговых микросхем для прецизионных измерительных систем. Минск: Академия управления при Президенте Республики Беларусь; 2006.
10. Достал И. Операционные усилители. Москва: Мир; 1982.
Рецензия
Для цитирования:
Галкин Я.Д., Дворников О.В., Чеховский В.А., Прокопенко Н.Н. Экспериментальные исследования и модель двухзатворного JFET для аналоговых интегральных микросхем. Доклады БГУИР. 2021;19(7):5-12. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12
For citation:
Galkin Y.D., Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Prokopenko N.N. Experimental studies and a double gate JFET model for analog integrated circuits. Doklady BGUIR. 2021;19(7):5-12. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-7-5-12