Для цитирования:
Нгуен Т.Д., Занько А.И., Голосов Д.А., Завадский С.М., Мельников С.Н., Колос В.В., То Т.К. Влияние отжига на структурно-фазовые и электрофизические свойства пленок оксида ванадия. Доклады БГУИР. 2021;19(3):22-30. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-3-22-30
For citation:
Nguen T.D., Zanko A.I., Golosov D.A., Zavadski S.M., Melnikov S.N., Kolos V.V., To T.Q. Influence of annealing on structure, phase and electrophysical properties of vanadium oxide films. Doklady BGUIR. 2021;19(3):22-30. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-3-22-30
Послать статью по эл. почте 