Для цитирования:

Боровиков С.М., Казючиц В.О. Индивидуальное прогнозирование надежности транзисторов большой мощности для электронных устройств медицинского назначения. Доклады БГУИР. 2021;19(1):88-95. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-1-88-95

For citation:

Borovikov S.M., Kaziuchyts V.O. Individual prediction of the reliability of high power transistors for electronic devices of medical purposes. Doklady BGUIR. 2021;19(1):88-95. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2021-19-1-88-95