Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., Бересневич А.И., Казючиц В.О. Индивидуальное прогнозирование надежности биполярных транзисторов с использованием электрического напряжения в качестве имитационного фактора. Доклады БГУИР. 2020;18(5):80-88. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2020-18-5-80-88

For citation:


Borovikov S.M., Shneiderov E.N., Berasnevich A.I., Kaziuchyts V.O. Individual forecasting of reliability of bipolar transistors by using electrical voltage as a simulation factor. Doklady BGUIR. 2020;18(5):80-88. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2020-18-5-80-88

Просмотров: 39


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)