Preview

Войти

Регистрация нового пользователя Забыли Ваш пароль?

Доклады БГУИР

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:

Солодуха В.А., Пилипенко В.А., Комаров Ф.Ф., Горушко В.A. Электронно-микроскопические исследования системы Pt-Si при ее быстрой термообработке. Доклады БГУИР. 2020;18(3):88-96. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2020-18-3-88-96

For citation:

Saladukha V.A., Pilipenko V.A., Komarov F.F., Gorushko V.A. Electron-microscope investigations of the Pt-Si system during its rapid thermal treatment. Doklady BGUIR. 2020;18(3):88-96. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2020-18-3-88-96

Просмотров: 317


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)

ул. П. Бровки, 6, к. 326, г. Минск, 220013, Республика Беларусь
Учреждение образования
«Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники»
тел. +375-17-293-88-41
e-mail: doklady@bsuir.by

создано и поддерживается NEICON
(лаборатория Ejournal )