Для цитирования:
Губчик И.Н. КАЛИБРОВКА СИСТЕМЫ, ПРЕДНАЗНАЧЕННОЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОВОДНИКОВ НА ПОДЛОЖКЕ МИКРОСХЕМЫ. Доклады БГУИР. 2013;(6):92-97.
For citation:
Gubchik I.N. CALIBRATION OF THE SYSTEM USED FOR CONDUCTOR INSPECTION AT MICROCHIP SUBSTRATE. Doklady BGUIR. 2013;(6):92-97. (In Russ.)