Для цитирования:

Губчик И.Н. КАЛИБРОВКА СИСТЕМЫ, ПРЕДНАЗНАЧЕННОЙ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОВОДНИКОВ НА ПОДЛОЖКЕ МИКРОСХЕМЫ. Доклады БГУИР. 2013;(6):92-97.

For citation:

Gubchik I.N. CALIBRATION OF THE SYSTEM USED FOR CONDUCTOR INSPECTION AT MICROCHIP SUBSTRATE. Doklady BGUIR. 2013;(6):92-97. (In Russ.)