Preview

Doklady BGUIR

Advanced search

RADIATION HARDNESS ENSURING OF ANALOG INTEGRATED CIRCUITS

Abstract

Influence of gamma radiation Co60 on static and dynamic characteristics of the transresistance amplifier and the comparator realized on the master slice array «ABMK 1-3» is considered taking into account formulated design rule. At absorbed dose D = 5 Mrad the comparator input current has increased on 25 %, other IC parameters (gain, impulse response of the transresistance amplifier, propagation delay, transition time, output current of the comparator) have changed slightly.

About the Authors

O. V. Dvornikov
ОАО «МНИПИ»
Belarus


V. A. Tchekhovski
Национальный научно-учебный центр физики частиц и высоких энергий Белгосуниверситета
Belarus


V. L. Diatlov
ОАО «МНИПИ»
Belarus


YU. V. Bogatyrev
Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Belarus


S. B. Lastovski
Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению
Belarus


References

1. Дворников О.В., Гришков В.Н. // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2010. С. 301-306.

2. Дворников О.В. // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2010. С. 283-288.

3. Дворников О.В., Чеховский В.А. // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2010. С. 289-294.

4. Дворников О.В., Батурицкий М.А., Чеховский В.А. // Материалы 3-ей Международной научно-технической конференции «Приборостроение-2010». Минск, 10-12 ноября 2010 г. Минск, 2010. С. 51-52.

5. Дворников О.В., Прокопенко Н.Н. // Материалы 2-ой Международной научно-технической конференции «Приборостроение-2009». Минск, 11-13 ноября 2009 г. Минск, 2009. С. 52-53.

6. Радиационный центр ГНПО «НПЦ НАН Беларуси по материаловедению». Минск, 2008.


Review

For citations:


Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Diatlov V.L., Bogatyrev Yu.V., Lastovski S.B. RADIATION HARDNESS ENSURING OF ANALOG INTEGRATED CIRCUITS. Doklady BGUIR. 2012;(4):105-110. (In Russ.)

Views: 387


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)