Иcследование S-параметров и диэлектрической проницаемости образцов поликора и GaAs с помощью векторного анализатора цепей

Для исследования S-параметров и диэлектрической проницаемости образцов поликора и GaAs использованы векторный анализатор цепей Р4-МВМ-118 со специальной измерительной ячейкой и модифицированный метод Николсона–Росса–Вейра. Применение в Р4-МВМ-118 при аппроксимации в цифровой фильтрации полиномиальных критериев Чебышева позволило уменьшить искажение достигнутых приближений S-параметров. Использование цифровой фильтрации дало возможность исключить субъективную погрешность оператора при анализе и измерениях с наличием «шумовой» составляющей, качественно улучшить восприятие амплитудно-частотной характеристики и устранить неинформативное изменение показаний прибора в любой точке частотного диапазона. Получены зависимости амплитуд и фаз коэффициентов передачи и отражения, а также диэлектрической проницаемости исследуемых образцов от частоты в диапазоне 78,33–118,10 ГГц.

1. Luukkonen, O. A Stepwise Nicolson–Ross–Weir-Based Material Parameter Extraction Method / О.Luukkonen, S. I. Maslovski, S. A. Tretyakov // IEEE Antennas and Wireless Propagation Letters. 2011. No 10. Р. 1295– 1298. DOI: 10.1109/LAWP.2011.2175897.

2. Певнева, Н. А. Метод свободного пространства с использованием векторного анализатора цепей для определения диэлектрической проницаемости материалов на сверхвысоких частотах / Н. А. Певнева, А. Л. Гурский, А. М. Кострикин // Доклады БГУИР. 2019. № 4. С. 32–39.

3. Madelung, O. Semiconductors Group IV Elements, IV–IV and III–V Compounds. Part a – Lattice Properties / O. Madelung, U. RÖssler, M. Schulz // Springer. 2001. No 683. DOI: 10.1007/b60136.