Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

МОДЕЛИРОВАНИЕ МНОГОСЛОЙНЫХ УЛЬТРАТОНКИХ ПЛЕНОЧНЫХ ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ СЕЛЕКТИВНЫХ ФИЛЬТРОВ

https://doi.org/10.35596/1729-7648-2019-125-7-88-94

Полный текст:

Аннотация

Целью работы являлось исследование оптических свойств одномерных фотонных кристаллов из ультратонких чередующихся слоев оксидов титана и кремния с различным порядком чередования слоев для формирования дефектных полуволновых слоев в объеме фотонного кристалла. Проведена оптимизация толщин слоев с учетом дисперсии коэффициента преломления и показано, что для формирования 16-слойной структуры фотонного кристалла без полуволнового слоя с фотонной запрещенной зоной в ультрафиолетовой области необходимо использовать слои диоксида титана и оксида кремния толщиной 28,3 и 53,2 нм соответственно. Предложена структура 26-слойного фотонного кристалла толщиной 2130 нм с двумя неэквидастантными полуволновыми слоями, формирующими резонансные полосы пропускания в фотонной запрещенной зоне с максимумами на 550 и 601 нм. Из-за дисперсии коэффициента преломления отношение толщин слоев TiO2:SiO2 изменяется с 1:1,88 в случае 16-слойной структуры с фотонной запрещенной зоной в УФ области до 1:1,5 в случае 26-слойной структуры с фотонной запрещенной зоной в видимом диапазоне. Продемонстрировано влияние фотонно-кристаллической структуры без полуволновых слоев на спектр излучения жидкокристаллического дисплея, изготовленного по технологии IPS, с целью снижения интенсивности синей компоненты для повышения безопасности зрения пользователя. Использование фотонного кристалла с двумя полуволновыми дефектными слоями позволяет добиться полного разделения компонент спектра, что возможно применять для модификации спектров крупных жидкокристаллических панелей, так как их изготовление по технологии AMOLED является крайне сложной технологической задачей даже для лидеров в данной области.

Об авторах

Л. С. Хорошко
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

Хорошко Людмила Сергеевна, к.ф.-м.н., старший научный сотрудник НИЛ «Нанофотоника» НИЧ

220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, д. 6

тел.+375-17-293-88-69



А. В. Баглов
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

Научный сотрудник Центра 4.11 НИЧ

220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, д. 6

тел.+375-17-293-88-69



А. А. Гнитько
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь

Магистрант кафедры микро- и наноэлектроники

220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, д. 6

тел.+375-17-293-88-69



Список литературы

1. Clara M., Griol A. Photonic Bandgap Glass-Based Structures. Overall Aspects of Non-Traditional Glasses: Synthesis, Properties and Applications. Sharjah: Bentham Sci. Publ. 2016; 107-130. DOI 10.2174/9781681082073116010009.

2. Waterman P.C. Symmetry, Unitarity, and Geometry in Electromagnetic Scattering. Physical Review D. 1971; 3: 825-829. DOI: 10.1103/PhysRevD.3.825.

3. Sarkar S., Gupta V., Kumar M., Schubert J., Probst P.T., Joseph J., König T.A.F. Hybridized Guided-Mode Resonances via Colloidal Plasmonic Self-Assembled Grating. ACS Appl. Mater. Interfaces. 2019; 11(14): 13752-13760. DOI: 10.1021/acsami.8b20535.

4. Gao L., Lemarchand F., Lequime M. Refractive index determination of SiO2 layer in the UV/Vis/NIR range: spectrophotometric reverse engineering on single and bi-layer designs. J. of the European Optical Society: Rapid publications. 2013; 8: 13010-1–13010-8. DOI: 10.2971/jeos.2013.13010


Для цитирования:


Хорошко Л.С., Баглов А.В., Гнитько А.А. МОДЕЛИРОВАНИЕ МНОГОСЛОЙНЫХ УЛЬТРАТОНКИХ ПЛЕНОЧНЫХ ФОТОННЫХ КРИСТАЛЛОВ ДЛЯ СЕЛЕКТИВНЫХ ФИЛЬТРОВ. Доклады БГУИР. 2019;(7 (125)):88-94. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2019-125-7-88-94

For citation:


Khoroshko L.S., Baglov A.V., Hnitsko A.A. MODELING OF MULTILAYER ULTRATHIN-FILM PHOTONIC CRYSTALS FOR SELECTIVE FILTERS. Doklady BGUIR. 2019;(7 (125)):88-94. (In Russ.) https://doi.org/10.35596/1729-7648-2019-125-7-88-94

Просмотров: 252


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)