ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ
Аннотация
С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем - имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем.
Об авторах
А. И. Белоус
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Беларусь
Беларусь
А. В. Прибыльский
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь
Беларусь
Список литературы
1. Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.
2. Козырь И.Я. Качество и надежность интегральных микросхем. М., 1997.
3. Красников Г.Я. Конструктивные особенности субмикронных МОП-транзисторов. М., 2004.
4. Денисенко В.В. Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике. М., 2010.
Рецензия
Для цитирования:
Белоус А.И., Прибыльский А.В. ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ. Доклады БГУИР. 2013;(1):94-96.
For citation:
Belous A.I., Prybylski A.V. EFFECTIVE METHOD OF UNRELIABLE CMOS CIRCUTS IDENTIFICATION. Doklady BGUIR. 2013;(1):94-96. (In Russ.)
Просмотров: 327
Послать статью по эл. почте 