ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ
Аннотация
С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем - имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем.
Для цитирования:
Белоус А.И., Прибыльский А.В. ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ. Доклады БГУИР. 2013;(1):94-96.
For citation:
Belous A.I., Prybylski A.V. EFFECTIVE METHOD OF UNRELIABLE CMOS CIRCUTS IDENTIFICATION. Doklady BGUIR. 2013;(1):94-96. (In Russ.)
Просмотров: 423
Послать статью по эл. почте 