Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ

Полный текст:

Аннотация

С увеличением степени интеграции интегральных схем, уменьшением геометрических размеров интегральных структур выявление ненадежных схем по-прежнему остается актуальной задачей. Наиболее часто используемый в производстве метод отбраковки потенциально ненадежных схем - имитация эксплуатационных режимов на этапе испытаний. Однако сложность и длительность реализации указанного метода делает его практически не пригодным в условиях массового производства интегральных схем.

Об авторах

А. И. Белоус
ОАО «ИНТЕГРАЛ»
Беларусь


А. В. Прибыльский
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
Беларусь


Список литературы

1. Красников Г.Я., Зайцев Н.А. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. М., 1998.

2. Козырь И.Я. Качество и надежность интегральных микросхем. М., 1997.

3. Красников Г.Я. Конструктивные особенности субмикронных МОП-транзисторов. М., 2004.

4. Денисенко В.В. Компактные модели МОП-транзисторов для SPICE в микро- и наноэлектронике. М., 2010.


Для цитирования:


Белоус А.И., Прибыльский А.В. ЭФФЕКТИВНЫЙ СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕНАДЕЖНЫХ КМОП СХЕМ. Доклады БГУИР. 2013;(1):94-96.

For citation:


Belous A.I., Prybylski A.V. EFFECTIVE METHOD OF UNRELIABLE CMOS CIRCUTS IDENTIFICATION. Doklady BGUIR. 2013;(1):94-96. (In Russ.)

Просмотров: 49


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)