1. European Organization of the Quality Control Glоssary. Bern: EOQC, 1988. 24 p.
2. Боровиков С.М. Статистическое прогнозирование для отбраковки потенциально ненадежных изделий электронной техники. М. : Новое знание, 2013. 343 с.
3. Физико-статистические модели деградации функциональных параметров изделий электронной техники / С.М. Боровиков [и др.]. // Докл. НАН Беларуси. 2007. Т. 51, № 6. С. 105-109.
4. Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., Бурак И.А. Модели на основе распределения Вейбулла-Гнеденко для описания деградации функциональных параметров изделий электронной техники / Докл. НАН Беларуси. 2015. Т. 59. № 3. С. 109-115.
5. Боровиков С.М. Теоретические основы конструирования, технологии и надежности. Минск: Дизайн ПРО, 1998. 336 с.
6. Bipolar Power Transistor. Data Book 1998 / TEMIC Semiconductors GmbH. 1997. № 12. Р. 35-42.
7. Livingston H. Guidelines for using plastic encapsulated microcircuits and semiconductors in military, aerospace and other rugged applications / G-12 Solid State Device Committee of the Government Electronics & Information Technology Association Sanders, a Lockheed Martin Co. 2000. 10 p.
8. Robinson L.E. Life expectancy in electronic components and 10th rule // Testing 1998. № 1. P. 16.
9. Велликок Л.Ф., Дегтяренко Л.В. Модель температурной зависимости интенсивности отказов полупроводниковых приборов // Электронная техника. Сер. 8. Управление качеством и стандартизация. 1976. Вып. 10(52). С. 65-69.
10. Улинич Р. Б. Практическое обеспечение надежности при проектировании. М.: Радио и связь, 1985. 112 с.
11. Quick Logic Reliability Report / рASIC, Vialink and Quick Logic Corp. Orleans, 1998. 21 p.