Preview

Доклады БГУИР

Расширенный поиск

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ

Аннотация

С помощью ускоренных испытаний получены экспериментальные данные о деградации функциональных параметров трех типов транзисторов большой мощности как представителей изделий электронной техники. По экспериментальным данным построены гистограммы распределения параметров. Установлено, что нормальный закон распределения с течением наработки деформируется и для выборок изделий плохо описывает деградацию параметров. Результаты деградации функциональных параметров использованы для решения задач группового и индивидуального прогнозирования надежности транзисторов с учетом постепенных отказов.

Для цитирования:


Боровиков С.М., Шнейдеров Е.Н., Плебанович В.И., Бересневич А.И., Бурак И.А. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ДЕГРАДАЦИИ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ. Доклады БГУИР. 2017;(2):45-52.

For citation:


Borovikov S.M., Shneiderov E.N., Plebanovich V.I., Berasnevich A.I., Burak I.A. Experimental research of electronic products degradation. Doklady BGUIR. 2017;(2):45-52. (In Russ.)

Просмотров: 3919


Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 1729-7648 (Print)
ISSN 2708-0382 (Online)