bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-98Research ArticleСтатьиКИНЕТИКА ЗАРОЖДЕНИЯ И РОСТА ПЛОТНОГО АНОДНОГО ОКСИДА АЛЮМИНИЯORIGIN AND GROWTH KINETICS OF DENSE ANODIC ALUMINAСоколВ. А.SokolV. A.noemail@neicon.ruЯковцеваВ. А.YakovtsevaV. A.noemail@neicon.ruЧушковаД. И.ChushkovaD. I.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus201203062019071217Copyright © Сокол В.А., Яковцева В.А., Чушкова Д.И., 20192019Сокол В.А., Яковцева В.А., Чушкова Д.И.Sokol V.A., Yakovtseva V.A., Chushkova D.I.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/98

В работе представлены обоснование и методика записи кинетических (поляризационных) зависимостей начальной (от -2 В) стадии зарождения и роста плотных оксидов алюминия. Установлено влияние исходного состояния поверхности алюминия на кинетику начальной стадии. Проведен детальный анализ различных стадий кинетики. Приведены результаты измерения удельной емкости и ее изменение в процессе зарождения и роста оксидной пленки.

Grounds for the research presented and the technique for the recording of kinetic (polarization) dependencies of the initial (from -2 V) stage of the origin and growth of dense anodic alumina are discussed. An influence of the starting aluminum surface on the kinetics of the initial stage was determined. The detailed analysis of various kinetic stages was made. Measurement results of the speci-fic capacity and its variation during the oxide film growth are submitted.

плотный оксиданодированиеалюминиймикроэлектроникаReferencesСокол В.А. Анодные оксиды алюминия. Минск, 2011.Сокол В.А. Анодные оксиды алюминия. Минск, 2011.Такахаси Х., Нагаяма М. // Киндзоку хемэн гидзюцу. 1985. Т. 36, №3. С. 10-17.Такахаси Х., Нагаяма М. // Киндзоку хемэн гидзюцу. 1985. Т. 36, №3. С. 10-17.Такахаси Х., Хироси Т., Нагаяма М // Киндзоку хемэн гидзюцую 1985. Т. 36, №4. С. 11-16.Такахаси Х., Хироси Т., Нагаяма М // Киндзоку хемэн гидзюцую 1985. Т. 36, №4. С. 11-16.Палеолог Е.Н., Акимов Г.В. // Труды института физической химии. 1951. Вып. 2. С. 5-21.Палеолог Е.Н., Акимов Г.В. // Труды института физической химии. 1951. Вып. 2. С. 5-21.Alwitt R.S. // Electrochem.Soc. 1967. Vol. 114, №8. P. 843-848.Alwitt R.S. // Electrochem.Soc. 1967. Vol. 114, №8. P. 843-848.Голубкова В.И., Котоусова И.С., Лаверко Е.Н., и др. // Электронная техника. Сер. 5. Pадиодетали и радиокомпоненты. 1979. Вып. 5. С. 16-27.Голубкова В.И., Котоусова И.С., Лаверко Е.Н., и др. // Электронная техника. Сер. 5. Pадиодетали и радиокомпоненты. 1979. Вып. 5. С. 16-27.Bernard W.J., Florio S.M. // Electrochem. Soc. 1985. Vol. 132, №10. P. 2320-2323.Bernard W.J., Florio S.M. // Electrochem. Soc. 1985. Vol. 132, №10. P. 2320-2323.Kobayashi K., Shimizu K., Nishibe H. // Electrochem. Soc. 1986. Vol. 133, № 1. P. 140-141.Kobayashi K., Shimizu K., Nishibe H. // Electrochem. Soc. 1986. Vol. 133, № 1. P. 140-141.Томашев Н.Д. // Коррозия металлов и сплавов. 1963. C. 5-43.Томашев Н.Д. // Коррозия металлов и сплавов. 1963. C. 5-43.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.