bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-90Research ArticleСтатьиМИКРОВОЛНОВОЙ БЕСКОНТАКТНЫЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ УРОВНЯ ВЕЩЕСТВMICROWAVE CONTACTLESS MEASUREMENT METHOD OF SUBSTANCES LEVELКозлякВ. В.KazlyakV. V.noemail@neicon.ruГусинскийА. В.GusinskiyA. V.noemail@neicon.ruКострикинА. М.KostrikinA. M.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus201203062019068294Copyright © Козляк В.В., Гусинский А.В., Кострикин А.М., 20192019Козляк В.В., Гусинский А.В., Кострикин А.М.Kazlyak V.V., Gusinskiy A.V., Kostrikin A.M.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/90

Проведен анализ и сравнение существующих бесконтактных методов измерения уровня вещества. Подробно рассмотрены преимущества и недостатки оптических, ультразвуковых и микроволновых методов измерения. Сделано заключение о целесообразности использования определенного бесконтактного метода измерения уровня в зависимости от заданных условий. Микроволновые методы измерения уровня вещества выделены как наиболее универсальные и перспективные. Рассмотрен СВЧ бесконтактный измеритель уровня веществ.

The analysis and comparison of existing contactless methods of substance level measurement is carried out. Advantages and lacks of optical, ultrasonic and microwave measurement methods are considered in details. The conclusion about expediency of a certain use contactless method of level measurement depending on set conditions is made. Microwave methods of substance level measurement are allocated as the most universal and perspective. А microwave contactless measuring instrument of substances level is considered.

уровень веществамикроволновой метод измерения уровняСВЧ бесконтактный измерительReferencesВолковец А.И., Руденко Д.Ф., Гусинский А.В. и др.// Докл. БГУИР. 2007, №4(20). С. 58-65.Волковец А.И., Руденко Д.Ф., Гусинский А.В. и др.// Докл. БГУИР. 2007, №4(20). С. 58-65.Мищенко С.В., Малков Н.А. Проектирование радиоволновых (СВЧ) приборов неразрушающего контроля материалов. : учеб. пособие. 2003.Мищенко С.В., Малков Н.А. Проектирование радиоволновых (СВЧ) приборов неразрушающего контроля материалов. : учеб. пособие. 2003.Викторов В.А., Лункин Б.В., Совлуков А.С. Радиоволновые измерения параметров технологических процессов. 1989.Викторов В.А., Лункин Б.В., Совлуков А.С. Радиоволновые измерения параметров технологических процессов. 1989.Давыдов П.С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем. 1988.Давыдов П.С. Техническая диагностика радиоэлектронных устройств и систем. 1988.Жданкин В.К. Измерение уровня посредством направленного электромагнитного излучения. 2004.Жданкин В.К. Измерение уровня посредством направленного электромагнитного излучения. 2004.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.