bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИРbsuir-765Research ArticleСтатьиПОИСК ИЗЛОМОВ КОНТУРОВ ИЗОБРАЖЕНИЙ НА ОСНОВЕ РАСШИРЯЕМЫХ МАСОКDETECTION OF FRACTURE A CONTOURS ON the image using expandING MASKSШевчукО. Г.ShevchukO. G.noemail@neicon.ruЦветковВ. Ю.TsviatkouV. Yu.noemail@neicon.ruБелорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarus20160306201907221225Copyright © Шевчук О.Г., Цветков В.Ю., 20192019Шевчук О.Г., Цветков В.Ю.Shevchuk O.G., Tsviatkou V.Y.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/765

Предложен метод поиска изломов контуров на основе расширяемых бинарных масок. Проведено сравнение разработанного метода по критериям быстродействия и стабильности локализации изломов (углов) в сравнении с методом Харриса при изменении яркости, контраста и повороте изображения. Показано, что метод превосходит метод Харриса по быстродействию и почти не уступает в качестве обработки изображений.

The method of detection of fracture a contours based on extensible binary masks is proposed. A comparison of the method developed for performance and stability criteria for localizing the breakpoints (corners) in comparison with the method of Harris when changing the brightness, contrast, and image rotation is held. It is shown that the method is superior to the method of Harris on speed and almost equal in quality of image processing.

точки изломадетектор угловмасочный анализметод Харрисаfracture pointangle detectionmask analysisHarris methodReferencesHarris, C., Stephens M. // Proceedings 4th Alvey Vision Conference. Alvey, UK, 31 August - 2 September 1988. P. 147-151.Harris, C., Stephens M. // Proceedings 4th Alvey Vision Conference. Alvey, UK, 31 August - 2 September 1988. P. 147-151.Shi J., Tomasi C. // Proceedings 9th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition. Seattle, Washington, USA, June 21 - 23 1994. P. 593-600.Shi J., Tomasi C. // Proceedings 9th IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition. Seattle, Washington, USA, June 21 - 23 1994. P. 593-600.Rosten E., Drummond T. // Proceedings 9th Euproean Conference on Computer Vision. Graz, Austria, May 7-13 2006. P. 430-443.Rosten E., Drummond T. // Proceedings 9th Euproean Conference on Computer Vision. Graz, Austria, May 7-13 2006. P. 430-443.Бородина О.Г., Цветков В.Ю. // Известия СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2015. № 1. С. 41-45.Бородина О.Г., Цветков В.Ю. // Известия СПбГЭТУ «ЛЭТИ». 2015. № 1. С. 41-45.Canny J. A. // Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence. 1986, Vol. 8, P. 679-698.Canny J. A. // Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence. 1986, Vol. 8, P. 679-698.F.Y. Shih, S. Cheng // Image and Vision Computing. Newark. 2005. № 23. P. 877-886.F.Y. Shih, S. Cheng // Image and Vision Computing. Newark. 2005. № 23. P. 877-886.Шевчук О.Г., Цветков В.Ю. // Информатика. 2016. № 51. С. 14-24Шевчук О.Г., Цветков В.Ю. // Информатика. 2016. № 51. С. 14-24Шевчук О.Г., Кирилюк Д.И., Макейчик Е.Г. и др. // Докл. БГУИР. 2015. № 7(93). C. 51-57.Шевчук О.Г., Кирилюк Д.И., Макейчик Е.Г. и др. // Докл. БГУИР. 2015. № 7(93). C. 51-57.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.