bsuirДоклады БГУИРDoklady BGUIR1729-76482708-0382БГУИР10.35596/1729-7648-2025-23-2-92-100bsuir-4116Research ArticleСтатьиПостроение управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборовConstructing Controlled Random Tests with a Small Number of Test PatternsЯрмоликВ. Н.YarmolikV. N.

Ярмолик Вячеслав Николаевич, д-р техн. наук, проф., проф. каф. программного обеспечения информационных технологий, Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники (БГУИР)

220013, Минск, ул. П. Бровки, 6

Vyacheslav N. Yarmolik, Dr. Sci. (Tech.), Professor, Professor at the Department of Information Technology Software

220013, Minsk, P. Brovki St., 6 

yarmolik10ru@yahoo.comПетровскаяВ. В.PetrovskayaV. V.

Магистр техн. наук каф. программного обеспечения информационных технологий

Минск

Vita V. Petrovskaya, Master Sci. (Tech.) at the Department of Information Technology Software

Minsk

ШевченкоН. А.ShauchenkaM. A.

Студ.

Дармштадт

Mikalai А. Shauchenka, Student

Darmstadt

Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроникиBelarusian State University of Informatics and RadioelectronicsДармштадтский технический университетDarmstadt Technical University20252904202523292100Copyright © Ярмолик В.Н., Петровская В.В., Шевченко Н.А., 20252025Ярмолик В.Н., Петровская В.В., Шевченко Н.А.Yarmolik V.N., Petrovskaya V.V., Shauchenka M.A.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/4116

Рассмотрены вопросы тестирования вычислительных систем и их составных компонентов. Выделен и исследован класс управляемых вероятностных тестов с малым числом тестовых наборов. Представлен метод построения управляемых вероятностных тестов с заданным расстоянием Хэмминга, основой которого является одномерное масштабирование шаблонов, представляющих собой тесты малой разрядности. Предложено применение исчерпывающих и псевдоисчерпывающих тестов в качестве шаблонов для получения управляемых вероятностных тестов. Исследованы свойства формируемых тестов и подходы по их использованию в качестве альтернативы вероятностным тестам. Эффективность метода построения управляемых вероятностных тестов экспериментально проанализирована и подтверждена для случая тестирования запоминающих устройств на наличие в них сложных кодочувствительных неисправностей.

The article considers the issues of testing computing systems and their components. A class of controlled probabilistic tests with a small number of tests patterns is identified and studied. A method for constructing controlled probabilistic tests with a given Hamming distance is presented, the basis of which is one-dimensional scaling of templates representing tests of small bit depth. It is proposed to use exhaustive and pseudo-exhaustive tests as templates for obtaining controlled probabilistic tests. The properties of the generated tests and approaches to their use as an alternative to probabilistic tests are studied. The efficiency of the method for constructing controlled probabilistic tests is experimentally analyzed and confirmed for the case of testing memory devices for the presence of complex code-sensitive faults.

вероятностный тестисчерпывающие и псевдоисчерпывающие тестытестовый набормера различиярасстояние Хэммингаprobabilistic testexhaustive and pseudo-exhaustive teststest setdissimilarity measureHamming distanceReferencesArcuri, A. Random Testing: Theoretical Results and Practical Implications / A. Arcuri, M. Z. Iqbal, L. Briand // IEEE Transactions on Software Engineering. 2011. Vol. 38, No 2. P. 258–277.Arcuri A., Iqbal M. Z., Briand L. (2011) Random Testing: Theoretical Results and Practical Implications. IEEE Transactions on Software Engineering. 38 (2), 258–277.Ярмолик, В. Н. Контроль и диагностика вычислительных систем / В. Н. Ярмолик. Минск: Бестпринт, 2019.Yarmolik V. N. (2019) Computer Systems Testing and Diagnoses. Minsk, Bestprint (in Russian).A Survey on Adaptive Random Testing / R. Huang [et al.] // IEEE Transactions on Software Engineering. 2021. Vol. 47, No 10. P. 2052–2083.Huang R., Sun W., Xu Y., Chen H., Towey D., Xia X. (2021) A Survey on Adaptive Random Testing. IEEE Transactions on Software Engineering. 47 (10), 2052–2083.Ярмолик, В. Н. Мера различия для управляемых вероятностных тестов / В. Н. Ярмолик, В. В. Петровская, Н. А. Шевченко // Доклады БГУИР. 2024. Т. 22, № 4. С. 76–83. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2024-22-4-76-83.Yarmolik V. N., Petrovskaya V. V., Shauchenka M. A. (2024) Difference Measure for Controlled Random Tests. Doklady BGUIR. 22 (4), 76–83. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2024-22-4-76-83 (in Russian).Malaiya, Y. K. Antirandom Testing: Getting the Most Out of Black-Box Testing / Y. K. Malaiya // Proc. of International Symposium on Software Reliability Engineering. Toulouse, France, Oct. 24–27, 1995. P. 86–95.Malaiya Y. K. (1995) Antirandom Testing: Getting the Most Out of Black-Box Testing. Proceedings of International Symposium on Software Reliability Engineering, Toulouse, France, Oct. 24–27. 86–95.Hartman, A. Problems and Algorithms for Covering Arrays / A. Hartman, L. Raskin // Discrete Mathematics. 2004. Vol. 284, No 1–3. P. 149−156.Hartman A., Raskin L. (2004) Problems and Algorithms for Covering Arrays. Discrete Mathematics. 284 (1–3), 149−156.Ярмолик, С. В. Итеративные почти псевдоисчерпывающие вероятностные тесты / С. В. Ярмолик, В. Н. Ярмолик // Информатика. 2010. Т. 26, № 2. С. 66–75.Yarmolik S. V., Yarmolik V. N. (2010) Iterative Near Pseudoexhaustive Random Tests. Informatics. 26 (2), 66–75 (in Russian).Построение управляемых вероятностных тестов с заданным расстоянием Хэмминга / В. Н. Ярмолик [и др.] // Цифровая трансформация. 2024. Т. 30, № 4. С. 62–72. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2024-30-4-62-72.Yarmolik V. N., Demenkovets D. V., Levantsevich V. A., Petrovskaya V. V. (2024) Design of Controlled Random Tests with the Given Hamming Distance. Digital Transformation. 30 (4), 62–72. https://doi.org/10.35596/1729-7648-2024-30-4-62-72 (in Russian).The Combinatorial Design Approach to Automatic Test Generation / D. M. Cohen [et al.] // IEEE Software. 1996. Vol. 13, No 5. P. 83–88.Cohen D., Dalal S. R., Parelius J., Patton G. C. (1996) The Combinatorial Design Approach to Automatic Test Generation. IEEE Software. 13 (5), 83–88.Tang, D. T. Exhaustive Test Pattern Generation with Constant Weight Vectors / D. T. Tang, L. S. Woo // IEEE Transactions on Computers. 1983. Vol. C–32, No 12. P. 1145–1150.Tang D. T., Woo L. S. (1983) Exhaustive Test Pattern Generation with Constant Weight Vectors. IEEE Transactions on Computers. C–32 (12), 1145–1150.Управляемые вероятностные тесты с фиксированным минимальным значением расстояния Хэмминга / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. 2025. Т. 22, № 1. С. 7–26.Yarmolik V. N., Petrovskaya V. V., Demenkovets D. V., Levantsevich V. A. (2025) Controlled Random Tests with Fixed Minimal Hamming Distance. Informatics. 22 (1), 7−26 (in Russian).Построение и применение маршевых тестов для обнаружения кодочувствительных неисправностей запоминающих устройств / В. Н. Ярмолик [и др.] // Информатика. 2021. Т. 18, № 1. С. 25–42. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42.Yarmolik V. N., Levantsevich V. А., Demenkovets D. V., Mrozek I. (2021) Construction and Application of March Tests for Pattern Sensitive Memory Faults Detection. Informatics. 18 (1), 25−42. https://doi.org/10.37661/1816-0301-2021-18-1-25-42 (in Russian).

The authors declare that there are no conflicts of interest present.