<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">bsuir</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Доклады БГУИР</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Doklady BGUIR</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7648</issn><issn pub-type="epub">2708-0382</issn><publisher><publisher-name>БГУИР</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.35596/1729-7648-2024-22-1-48-55</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">bsuir-3857</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОФИЗИКА, РАДИОТЕХНИКА, ИНФОРМАТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTRONICS, RADIOPHYSICS, RADIOENGINEERING, INFORMATICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Алгоритм бесконтактного контроля работоспособности элементов радиоэлектронной аппаратуры</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Algorithm for Non-Contact Monitoring of the Performance of Electronic Equipment Elements</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гринкевич</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Grinkevich</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>канд. техн. наук, доц.</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Сand. of Sci., Associate Professor</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Денис</surname><given-names>А. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Denis</surname><given-names>А. А.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Денис Анастасия Андреевна, аспирант</p><p>220113, г. Минск, Логойский тракт, 8–27</p><p>Тел.: +375 29 861-12-75</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Denis Anastasia Andreevna, Postgraduate</p><p>220113, Minsk, Logoiskij Tract, 8–27</p><p>Tel.: + 375 29 861-12-75 </p></bio><email xlink:type="simple">den.rayker@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Марчук</surname><given-names>Т. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Marchuk</surname><given-names>Т. М.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>аспирант</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Marchuk T. M., Postgraduate</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2024</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>28</day><month>02</month><year>2024</year></pub-date><volume>22</volume><issue>1</issue><fpage>48</fpage><lpage>55</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Гринкевич А.В., Денис А.А., Марчук Т.М., 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Гринкевич А.В., Денис А.А., Марчук Т.М.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Grinkevich A.V., Denis А.А., Marchuk Т.М.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3857">https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3857</self-uri><abstract><p>Исследования, описанные в статье, относятся к области технической диагностики – одной из составных частей процесса ремонта радиоэлектронной аппаратуры. Определены основные причины, оказывающие влияние на корректную работу радиоэлектронной аппаратуры, выявлены виды технических неисправностей, возникающих в процессе ее эксплуатации. Выделены и систематизированы виды неисправностей печатных узлов, выполнена классификация способов их диагностики, разработан алгоритм бесконтактного контроля работоспособности элементов радиоэлектронной аппаратуры и предложена структура устройства для его реализации.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The research, described in the article, relates to the field of technical diagnostics – one of the componentsof the process of repairing electronic equipment. The main reasons that influence the correct operation of radioelectronic equipment are identified, and the types of technical malfunctions that arise during its operationare identified. The types of faults in printed circuit units have been identified and systematized, a classificationof methods for their diagnosis has been made, an algorithm for contactless monitoring of the performance of radioelectronic equipment elements has been developed, and a device structure for its implementation has been proposed.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>радиоэлектронная аппаратура</kwd><kwd>диагностика</kwd><kwd>работоспособность</kwd><kwd>ремонт</kwd><kwd>неисправность</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>radioelectronic equipment</kwd><kwd>diagnostics</kwd><kwd>performance</kwd><kwd>repair</kwd><kwd>malfunction</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ковалев, С. Тестирование электронных устройств на производстве: обзор методов, анализ достоинств и недостатков / С. Ковалев // Технологии в электронной промышленности. 2013. Т. 64, № 4. С. 66–68.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kovalev S. (2013) Testing of Electronic Devices in Production: a Review of Methods, Analysis of Advantages and Disadvantages. Technologies in the Electronics Industry. 64 (4), 66–68 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зеленский, А. В. Основы конструирования электронных средств / А. В. Зеленский, Г. Ф. Краснощекова. Самара, 2008. Ч. 1.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zelensky A. V., Krasnoshchekova G. F. (2008) Fundamentals of the Design of Electronic Means. Part 1. Samara (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Семенцов, С. Г. Тепловизионные методы оценки влияния температурных режимов на надежность электронной аппаратуры / С. Г. Семенцов, В. Н. Гриднев, Н. А. Сергеева // Вестник Московского государственного технического университета им. Н. Э. Баумана. Серия «Приборостроение». 2016. № 1. C. 3–14.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sementsov S. G., Gridnev V. N., Sergeeva N. A. (2016) Thermal Imaging Methods for Assessing the Temperature Regimes of the Reliability of Electronic Equipment. Bulletin of Moscow State Technical University named after N. E. Bauman. Series “Instrument Making”. (1), 3–14 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бесконтактный тепловой контроль изделий электронной техники / С. П. Панфилова [и др.] // Производство электроники: технологии, оборудование, материалы. 2007. № 3. С. 25–32.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Panfilova S. P., Vlasov A. I., Gridnev V. N., Chervinsky A. S. (2007) Non-Contact Control of the Control of Electronic Products. Production of Electronics: Technologies, Equipment, Materials. (3), 25–32 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Порядин, Р. Электрохимическая миграция. Борьба с невидимым врагом / Р. Порядин // Вектор высоких технологий. 2019. № 3.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Poryadin R. (2019) Electrochemical Migration. Fighting an Invisible Enemy. Vector of High Technologies. (3) (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гамова, А. Путь к обеспечению надежности электронных приборов. Контроль влажности [Электронный ресурс] / А. Гамова, А. Черных // Электроника: наука, технологии, бизнес. 2009. № 5. С. 84–85. Режим доступа: https://www.electronics.ru/journal/article/242.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gamova A., Chernykh A. (2009) The Path to the Reliability of Electronic Devices. Evaluation Control. Electronics: Science, Technology, Business. (5), 84–85. Available: https://www.electronics.ru/journal/article/242 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кюль, Т. Решение проблем, связанных с электрической перегрузкой усилителя [Электронный ресурс] / Т. Люль, Б. Бейкер // Компоненты и технологии. 2010. № 1. С. 95–100. Режим доступа: https://kit-e.ru/powerel/reshenie-problem-svyazannyh-s-elektricheskoj-peregruzkoj-usilitelya/.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kuehl T., Baker B. (2010) Problem Solving is Probably Related to Overloading the Amplifier. Components and Technologies. (1), 95–100. Available: https://kit-e.ru/powerel/reshenie-problem-svyazannyh-s-elektricheskojperegruzkoj-usilitelya/ (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кацуба, Ю. Н. Применение искусственных нейронных сетей для диагностирования изделий. Ч. 1 / Ю. Н. Кацуба, И. В. Власова // Технические науки. 2015. Т. 34, № 3. С. 68–70.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Katsuba Yu. N., Vlasova I. V. (2015) The Use of Artificial Neural Networks for Product Diagnostics. Part 1. Technical Science. 34 (3), 68–70 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
