<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">bsuir</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Доклады БГУИР</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Doklady BGUIR</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7648</issn><issn pub-type="epub">2708-0382</issn><publisher><publisher-name>БГУИР</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.35596/1729-7648-2021-19-4-52-60</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">bsuir-3108</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОФИЗИКА, РАДИОТЕХНИКА, ИНФОРМАТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTRONICS, RADIOPHYSICS, RADIOENGINEERING, INFORMATICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Влияние проникающей радиации на параметры аналоговых компонентов базового матричного кристалла МН2ХА030</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Ionizing radiation influence on parameters of analog components of the master slice array МН2ХА030</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Дворников</surname><given-names>О. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Dvornikov</surname><given-names>O. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>д.т.н., доцент, главный научный сотрудник</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Oleg V. Dvornikov, D.Sc., Associate Professor, Chief Research Scientist </p><p>Minsk </p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чеховский</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tchekhovski</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>исполняющий обязанности заведующего лабораторией «Электронные методы и средства эксперимента»</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir A. Tchekhovski, Acting Laboratory Manager at the “Electronic methods and experiment means” Laboratory</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Дятлов</surname><given-names>В. Л.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Dziatlau</surname><given-names>V. L.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>научный сотрудник лаборатории «Электронные методы и средства эксперимента»</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Valiantsin L. Dziatlau, Research Scientist at the “Electronic methods and experiment means” Laboratory</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Галкин</surname><given-names>Я. Д.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Galkin</surname><given-names>Y. D.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Галкин Ярослав Денисович, аспирант, младший научный сотрудник лаборатории «Электронные методы и средства эксперимента» </p><p>220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6тел. +375-25-725-07-75</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Galkin Yaroslav Denisovich, Postgraduate student, Junior Researcher at the “Electronic methods and experiment means” Laboratory</p><p>220013, Republic of Belarus, Minsk, P. Brovki str., 6tel. +375-25-725-07-75</p></bio><email xlink:type="simple">galkinyaroslav@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Прокопенко</surname><given-names>Н. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Prokopenko</surname><given-names>Nikolay N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>д.т.н., профессор, заведующий кафедрой  информационных систем и радиотехники</p><p>г. Ростов-на-Дону</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nikolay N. Prokopenko, D.Sc.,  Professor, Head of Information  Systems  and  Radioelectronics Department </p><p>Rostov-on-Don</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-4"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Минский научно-исследовательский приборостроительный институт</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Minsk Research Instrument-Making Institute JSC (MNIPI JSC)</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute for Nuclear Problems of Belarusian State University</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета; Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute for Nuclear Problems of Belarusian State University; Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics</institution></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-4"><aff xml:lang="ru"><institution>Донской государственный технический университет</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Don State Technical University</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2021</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>07</month><year>2021</year></pub-date><volume>19</volume><issue>4</issue><fpage>52</fpage><lpage>60</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Дворников О.В., Чеховский В.А., Дятлов В.Л., Галкин Я.Д., Прокопенко Н.Н., 2021</copyright-statement><copyright-year>2021</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Дворников О.В., Чеховский В.А., Дятлов В.Л., Галкин Я.Д., Прокопенко Н.Н.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Dziatlau V.L., Galkin Y.D., Prokopenko N.N.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3108">https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/3108</self-uri><abstract><p>Для уменьшения стоимости, времени проектирования и испытаний радиационно-стойких аналоговых интегральных микросхем часто применяют базовые структурные и базовые матричные кристаллы. Одним из таких базовых матричных кристаллов является МН2ХА030, использующий в качестве активных элементов биполярные и полевые транзисторы, управляемые p-n-переходом. Целью статьи является оценка влияния проникающей радиации на статические параметры операционного усилителя OAmp2 и компараторов ADComp1 и ADComp3, изготовленных на базовом матричном кристалле МН2ХА030. Приведены результаты измерений основных параметров аналоговых компонентов после воздействия гамма-квантов 60Co с поглощенной дозой до 700 крад и флюенса быстрых электронов до 2,9·1015 эл./см2 с энергией 6 МэВ. Как следует из результатов измерений, операционный усилитель OAmp2 обеспечивает удовлетворительный уровень основных статических параметров (входной ток, напряжение смещения нуля, коэффициент усиления напряжения) при флюенсе быстрых электронов до 3,7·1014 эл./см2 с энергией 6 МэВ. При флюенсе быстрых электронов больше 1015 эл./см2 происходит спад коэффициента усиления напряжения и рост напряжения смещения нуля. Последнее может быть вызвано уменьшением эффективности встроенной в операционный усилитель обратной связи по синфазному сигналу при значительном спаде коэффициента усиления базового тока биполярных транзисторов. Все изученные аналоговые компоненты обеспечивают удовлетворительный уровень основных статических параметров при флюенсе быстрых электронов до 3,7·1014 эл./см2 с энергией 6 МэВ и поглощенной дозе гамма-квантов 60Co не менее 700 крад. Предполагается, что стойкость OAmp2, ADComp1, ADComp3 к воздействию гамма-квантов 60Co существенно выше и требует дальнейшего изучения. Разработанные аналоговые компоненты могут найти применение в устройствах считывания сигналов, необходимых в аналоговых интерфейсах датчиков космического приборостроения и ядерной электроники.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Structured arrays and master slice arrays are often used to reduce cost, design and test time for radiation hardened analog integrated circuits. One of such master slice arrays is МН2ХА030, which uses bipolar and junction field-effect transistors. The purpose of this article is to estimate the effect of ionizing radiation on the parameters of the operational amplifier OAmp2 and comparators ADComp1 and ADComp3 created on the МН2ХА030 master slice array. Еhe results of measurements of analog components after exposure to 60Co gamma quanta with an absorbed dose of up to 700 krad and a fast electron fluence of up to 2.9·1015 el./cm2 with an energy of 6 MeV are presented. The OAmp2 operational amplifier provides a satisfactory level of basic static parameters (input current, offset voltage, voltage gain) at a fast electron fluence of up to 3.7·1014 el./cm2 with an energy of 6 MeV. There are a decrease in the voltage gain and an increase in the offset voltage at electron fluence of greater than 1015 el./cm2. The latter can be caused by a decrease in the efficiency of the common-mode signal feedback integrated into operational amplifier with a significant drop in current gain of bipolar transistors. All considered analog components provide a satisfactory level of basic static parameters at a fast electron fluence of up to 3.7·1014 el./cm2 with an energy of 6 MeV and an absorbed dose of 60Co gamma quanta of at least 700 krad. It is assumed that resistance of OAmp2, ADComp1, ADComp3 to the action of 60Co gamma quanta is significantly higher and requires further research. The developed analog components can be used in signal reading devices required in front-end of sensors for space instrumentation and nuclear electronics.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>операционный усилитель</kwd><kwd>компаратор</kwd><kwd>базовый матричный кристалл</kwd><kwd>радиационная стойкость</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>operational amplifier</kwd><kwd>comparator</kwd><kwd>master slice array</kwd><kwd>radiation hardeness</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дворников О.В., Прокопенко Н.Н., Бутырлагин Н.В., Бугакова А.В. Перспективы применения новых микросхем базового матричного и базового структурного кристаллов в датчиковых системах. Труды СПИИРАН. 2016;2(45):157-171.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Prokopenko N.N., Butyirlagin N.V., Bugakova A.V. [Prospects for the use of new microcircuits of the master slice and base structural array in sensor systems]. Trudyi SPIIRAN. 2016;2(45):157-171. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дворников О.В., Прокопенко Н.Н., Пахомов И.В., Бутырлагин Н.В., Бугакова А.В. Проектирование радиационно-стойких аналоговых процессоров и преобразователей сигналов датчиков на основе базового структурного кристалла MH2XA010. Радиотехника. 2016;2:107-113.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Prokopenko N.N., Pahomov I.V., Butyirlagin N.V., Bugakova A.V. [Design of radiation- hardened analog processors and sensor signal converters based on the master slice array MH2XA010]. Radiotehnika. 2016;2:107-113. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dvornikov O.V., Dyatlov V.L., Prokopenko N.N., Chekhovskii V.A. Configurable Structured Array for Fabrication of Radiation-Hardened Analog Interfaces. Journal of Communications Technology and Electronics. 2017;62(10):1193-1199. DOI: 10.1134/S1064226917090078.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Dyatlov V.L., Prokopenko N.N., Chekhovskii V.A. Configurable Structured Array for Fabrication of Radiation-Hardened Analog Interfaces. Journal of Communications Technology and Electronics. 2017;62(10):1193-1199. DOI: 10.1134/S1064226917090078.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Dziatlau V.L., Prokopenko N.N. Influence of Ionizing Radiation on the Parameters of an Operational Amplifier Based on Complementary Bipolar Transistors. Russian Microelectronics. 2016;45(1):54-62. DOI: 10.1134/S1063739716010030.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Tchekhovski V.A., Dziatlau V.L., Prokopenko N.N. Influence of Ionizing Radiation on the Parameters of an Operational Amplifier Based on Complementary Bipolar Transistors. Russian Microelectronics. 2016;45(1):54-62. DOI: 10.1134/S1063739716010030.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дворников О.В., Дятлов В. Л., Прокопенко Н. Н., Чеховский В. А., Пахомов И.В., Бугакова А.В. Статические параметры компараторов и зарядочувствительных усилителей базового структурного кристалла МН2ХА010 при воздействии гамма-излучения. Глобальная ядерная безопасность. 2017;2(23):38-46.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Dyatlov V.L., Prokopenko N.N., Chehovskiy V.A., Pahomov I.V., Bugakova A.V. [Static parameters of comparators and charge-sensitive amplifiers of the master slice array МН2ХА010 when gamma radiation exposed to]. Globalnaya yadernaya bezopasnost. 2017;2(23):38-46. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дворников О.В., Чеховский В.А., Дятлов В.Л., Прокопенко Н.Н., Будяков П.С. Проектирование компараторов напряжений на базе элементов радиационно-стойкого низкотемпературного BiJFET базового матричного кристалла МН2ХА030. Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018;4:10-16. DOI: 10.31114/2078-7707-2018-4-10-16.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Chehovskiy V.A., Dyatlov V.L., Prokopenko N.N., Budyakov P.S. [Design of voltage comparators based on elements of radiation-hardened low-temperature BiJFET master slice array МН2ХА030]. Problemyi razrabotki perspektivnyih mikro- i nanoelektronnyih sistem. 2018;4:10-16. DOI: 10.31114/2078-7707-2018-4-10-16. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dvornikov O.V., Dziatlau V.L., Tchekhovski V.A., Prokopenko N.N., Bugakova A.V. BiJFet Array Chip MH2XA030 – a Design Tool for Radiation-Hardened and Cryogenic Analog Integrated Circuits. 2018 IEEE International Conference on Electrical Engineering and Photonics (EexPolytech). 2018;13-17. DOI: 10.1109/EExPolytech.2018.8564415.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V., Dziatlau V.L., Tchekhovski V.A., Prokopenko N.N., Bugakova A.V. BiJFet Array Chip MH2XA030 – a Design Tool for Radiation-Hardened and Cryogenic Analog Integrated Circuits. 2018 IEEE International Conference on Electrical Engineering and Photonics (EexPolytech). 2018;13-17. DOI: 10.1109/EExPolytech.2018.8564415.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бельков М.В., Бушева С.В., ред.: Шумилина А.Г. Справочник центров коллективного пользования уникальным научным оборудованием и приборами. № 7. Минск: БелИСА; 2017.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Belkov M.V., Busheva S.V., red.: Shumilina A.G. [Directory of centers for the collective use of unique scientific equipment and instruments]. № 7. Minsk: BelISA; 2017. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dvornikov O.V, Tchekhovski V.A, Diatlov V.L., Bogatyrev YU.V., Lastovski S.B. Forecasting of bipolar integrated circuits hardness for various kinds of penetrating radiations. 2013 23rd International Crimean Conference “Microwave &amp; Telecommunication Technology”. 2013;2:925-927.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dvornikov O.V, Tchekhovski V.A, Diatlov V.L., Bogatyrev YU.V., Lastovski S.B. Forecasting of bipolar integrated circuits hardness for various kinds of penetrating radiations. 2013 23rd International Crimean Conference “Microwave &amp; Telecommunication Technology”. 2013;2:925-927.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Абрамов И.И., Дворников О.В. Проектирование аналоговых микросхем для прецизионных измерительных систем. Минск: Академия управления при Президенте Республики Беларусь; 2006.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Abramov I.I., Dvornikov O.V. [Designing analog microcircuits for precision measuring systems]. Minsk: Academy of Public Administration under the aegis of the President of the Republic of Belarus; 2006. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
