<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">bsuir</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Доклады БГУИР</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Doklady BGUIR</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7648</issn><issn pub-type="epub">2708-0382</issn><publisher><publisher-name>БГУИР</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">bsuir-280</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>НАНОРАЗМЕРНЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКИ И ДИЭЛЕКТРИКИ: ДОСТИЖЕНИЯ ЦЕНТРА НАНОЭЛЕКТРОНИКИ И НОВЫХ МАТЕРИАЛОВ БГУИР</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Nanodimensional semiconductors and dielectrics: achievements of nanoelectronics and novel materials</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Борисенко</surname><given-names>В. Е.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Borisenko</surname><given-names>V. E.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники</institution><country>Belarus</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>03</day><month>06</month><year>2019</year></pub-date><volume>0</volume><issue>2</issue><fpage>5</fpage><lpage>13</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Борисенко В.Е., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Борисенко В.Е.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Borisenko V.E.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/280">https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/280</self-uri><abstract><p>Кратко представлены основные результаты теоретических и экспериментальных исследований фундаментальных электронных и оптических свойств наноструктурированного пористого кремния, квантовых пленок и шнуров из кремния и германия, наноразмерных алмазов, наноструктурированных оксидов металлов и полупроводников, наноструктур с эффектом туннельного магнитосопротивления, наноразмерных пленок HfO2 в структурах с токовым переключением сопротивления, проведенных в Центре наноэлектроники и новых материалов БГУИР. Отмечены перспективы их применения для электронной и оптической обработки информации и в других областях.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>It is a short review of the most valuable theoretical and experimental results obtained in the center of nanoelectronics and novel materials. Electronic and optical properties of nanostructured porous silicon, quantum films and wires of silicon and germanium, nanodiamonds, nanostructured oxides of metals and semiconductors, nanostructures with the effect of tunneling magnetoresistance, nanodimensional HfO2 films in the structures with resistive switching are summarized. Their application is presented.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>наноструктура</kwd><kwd>наноструктурированный материал</kwd><kwd>нанотехнология</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Список литературы</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Список литературы</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Borisenko V.E., Ossicin S. What is What in the Nanoworld. Weinheim, 2004; Second Edition, 2008; Third Edition, 2012.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borisenko V.E., Ossicin S. What is What in the Nanoworld. Weinheim, 2004; Second Edition, 2008; Third Edition, 2012.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А. и др. Наноматериалы и нанотехнологии. Минск, 2008.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А. и др. Наноматериалы и нанотехнологии. Минск, 2008.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Physics, Chemistry and Application of Nanostructures / Eds. Borisenko V.E., Gaponenko S.V., Gurin V.S., Kam C.H. Singapore, 1997, 1999, 2001, 2003, 2005, 2009, 2011, 2013.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Physics, Chemistry and Application of Nanostructures / Eds. Borisenko V.E., Gaponenko S.V., Gurin V.S., Kam C.H. Singapore, 1997, 1999, 2001, 2003, 2005, 2009, 2011, 2013.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Борисенко В.Е., Воробьева А.И., Уткина Е.А. Наноэлектроника. М., 2009.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Борисенко В.Е., Воробьева А.И., Уткина Е.А. Наноэлектроника. М., 2009.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Борисенко В.Е., Воробьева А.И., Данилюк А.Л., Уткина Е.А. Наноэлектроника: теория и практика. М., 2013.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Борисенко В.Е., Воробьева А.И., Данилюк А.Л., Уткина Е.А. Наноэлектроника: теория и практика. М., 2013.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bondarenko V. P., Borisenko V.E. et al.// J. Appl. Phys. 1994. Vol. 75. № 5. P. 2727-2729.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bondarenko V. P., Borisenko V.E. et al.// J. Appl. Phys. 1994. Vol. 75. № 5. P. 2727-2729.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лешок А.А., Германенко И.Н., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 1994. Т. 61. № 3-4. С. 237-240.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лешок А.А., Германенко И.Н., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 1994. Т. 61. № 3-4. С. 237-240.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А. , Лазарук С.К., Борисенко В.Е. // ФТП. 2006. Т. 40. № 2. С. 240-245.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А. , Лазарук С.К., Борисенко В.Е. // ФТП. 2006. Т. 40. № 2. С. 240-245.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Сасинович Д.А., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2007. Т. 41. № 9. С. 1126-1129.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Сасинович Д.А., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2007. Т. 41. № 9. С. 1126-1129.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S.K., Jaguiro P.V., Borisenko V.E. // Microsystems and Nanotechnology / Eds. Nassiopoulou A.G., Zianni X. Singapore. 2001. P. 41-44.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S.K., Jaguiro P.V., Borisenko V.E. // Microsystems and Nanotechnology / Eds. Nassiopoulou A.G., Zianni X. Singapore. 2001. P. 41-44.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Жагиро П.В., Борисенко В.Е. и др. // Изв. Акад. Наук. Физич. сер. 2002. Т. 66. № 2. С. 178-182.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Жагиро П.В., Борисенко В.Е. и др. // Изв. Акад. Наук. Физич. сер. 2002. Т. 66. № 2. С. 178-182.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Лешок А.А., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2005. Т. 39. № 1. С. 149-152.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Лешок А.А., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2005. Т. 39. № 1. С. 149-152.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S., Jaguiro P., Borisenko V. // Phys. Stat. Sol. (a). 1998. Vol. 165. № 1. P. 87-90.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S., Jaguiro P., Borisenko V. // Phys. Stat. Sol. (a). 1998. Vol. 165. № 1. P. 87-90.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S.K., Leshok A.A., Borisenko V.E. et al. // Microel. Eng. 2000. Vol. 50. № 1-4. P. 81-86.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S.K., Leshok A.A., Borisenko V.E. et al. // Microel. Eng. 2000. Vol. 50. № 1-4. P. 81-86.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S.K., Jaguiro P.V., Borisenko V.E. et al. // Physica E. 2003. Vol. 16. P. 495-498.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S.K., Jaguiro P.V., Borisenko V.E. et al. // Physica E. 2003. Vol. 16. P. 495-498.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dorofeev A.M., Gaponenko N.V., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 1995. Vol. 77. № 6. P. 2679-2683.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dorofeev A.M., Gaponenko N.V., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 1995. Vol. 77. № 6. P. 2679-2683.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Dorofeev A., Bachilo E., Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 1996. Vol. 276. № 1. P. 171-174.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Dorofeev A., Bachilo E., Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 1996. Vol. 276. № 1. P. 171-174.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gaponenko N.V., Mudryi A.V., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 1997. Vol. 165. № 1. P. 131-134.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gaponenko N.V., Mudryi A.V., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 1997. Vol. 165. № 1. P. 131-134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bondarenko V., Vorozov N., Borisenko V.E. et al. // Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 1999. Vol. 536. P. 69-74.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bondarenko V., Vorozov N., Borisenko V.E. et al. // Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 1999. Vol. 536. P. 69-74.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2005. Т. 39. № 8. С. 917-919.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2005. Т. 39. № 8. С. 917-919.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2007. Т. 41. № 9. С. 1130-1134.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2007. Т. 41. № 9. С. 1130-1134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2006. Т. 84. № 11. С. 695-699.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лазарук С.К., Долбик А.В., Борисенко В.Е. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2006. Т. 84. № 11. С. 695-699.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 1997. Vol. 70. № 6. P. 744-746.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 1997. Vol. 70. № 6. P. 744-746.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Холод А.Н., Филонов А.Б., Борисенко В.Е. // Докл. Акад.наук Беларуси. 1997. Т. 41. № 4. С. 58-61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Холод А.Н., Филонов А.Б., Борисенко В.Е. // Докл. Акад.наук Беларуси. 1997. Т. 41. № 4. С. 58-61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit26"><label>26</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. // Phys. Stat. Sol. (a). 1998. Vol. 165. № 1. P. 57-61.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. // Phys. Stat. Sol. (a). 1998. Vol. 165. № 1. P. 57-61.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit27"><label>27</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. B. 1998. Vol. 57. № 3. P. 1394-1397.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. B. 1998. Vol. 57. № 3. P. 1394-1397.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit28"><label>28</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Comp. Mat. Sci. 1998. Vol. 10. №1-4. P. 148-153.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filonov A.B., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Comp. Mat. Sci. 1998. Vol. 10. №1-4. P. 148-153.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit29"><label>29</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kholod A.N., Saúl A., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. 2000. Vol. 62. № 19. P. 12949-12954.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kholod A.N., Saúl A., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. 2000. Vol. 62. № 19. P. 12949-12954.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit30"><label>30</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kholod A.N., Borisenko V.E., Saúl A. et al. // Optical Materials. 2001. Vol. 17. № 1. P. 61-63.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kholod A.N., Borisenko V.E., Saúl A. et al. // Optical Materials. 2001. Vol. 17. № 1. P. 61-63.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit31"><label>31</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filonov A.B., Petrov G.V., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. № 8. P. 1090-1091.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filonov A.B., Petrov G.V., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 1995. Vol. 67. № 8. P. 1090-1091.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit32"><label>32</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kholod A.N., Shaposhnikov V. L., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. B. 2004. Vol. 70. № 3. P. 035317.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kholod A.N., Shaposhnikov V. L., Borisenko V.E. et al. // Phys. Rev. B. 2004. Vol. 70. № 3. P. 035317.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit33"><label>33</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Borisenko V.E. // Nanotechnology. 2007. Vol. 18. № 37. P. 375703.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Borisenko V.E. // Nanotechnology. 2007. Vol. 18. № 37. P. 375703.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit34"><label>34</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Borisenko V.E. // Phys. Rev. B. 2007. Vol. 76. № 3. P. 035440.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Borisenko V.E. // Phys. Rev. B. 2007. Vol. 76. № 3. P. 035440.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit35"><label>35</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2008. Vol. 104. № 2. P. 024314.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2008. Vol. 104. № 2. P. 024314.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit36"><label>36</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2009. Vol. 105. № 10. P. 104316.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2009. Vol. 105. № 10. P. 104316.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit37"><label>37</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kholod A.N., Borisenko V.E., Zaslavsky A. et al. // Phys. Rev. B. 1999. Vol. 60. № 23. P. 15975-15979.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kholod A.N., Borisenko V.E., Zaslavsky A. et al. // Phys. Rev. B. 1999. Vol. 60. № 23. P. 15975-15979.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit38"><label>38</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ménard S., Liniger M., Borisenko V.E. et al. // Mat. Sci. Eng. B. 2000. Vol. 69-70. P. 464-467.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ménard S., Liniger M., Borisenko V.E. et al. // Mat. Sci. Eng. B. 2000. Vol. 69-70. P. 464-467.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit39"><label>39</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Изв. Бел. инж. акад. 2000. Т. 1. № 9/2. С. 51-53.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Изв. Бел. инж. акад. 2000. Т. 1. № 9/2. С. 51-53.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit40"><label>40</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ménard S. Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 2000. Vol. 181, № 2. P. 561-568.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ménard S. Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 2000. Vol. 181, № 2. P. 561-568.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit41"><label>41</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Berashevich Yu.A., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Semiconductors. 2001. Vol. 35. № 1. P. 112-116.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berashevich Yu.A., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Semiconductors. 2001. Vol. 35. № 1. P. 112-116.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit42"><label>42</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Liniger M., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2001. Vol. 89. № 11. P. 6281-6284.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Liniger M., Kholod A.N., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2001. Vol. 89. № 11. P. 6281-6284.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit43"><label>43</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2002. Т. 36. № 1. С. 91-96.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. и др. // ФТП. 2002. Т. 36. № 1. С. 91-96.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit44"><label>44</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Berashevich J.A.,Borisenko V.E., Lazzari J.-L. et al. // Phys. Rev. B. 2007. Vol. 75. № 11. P. 115336.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berashevich J.A.,Borisenko V.E., Lazzari J.-L. et al. // Phys. Rev. B. 2007. Vol. 75. № 11. P. 115336.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit45"><label>45</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Borisenko V.E., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. // Russian Microelectronics. 1998. Vol. 27. № 4. P. 233-239.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borisenko V.E., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. // Russian Microelectronics. 1998. Vol. 27. № 4. P. 233-239.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit46"><label>46</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kholod A.N., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 1999. Vol. 85. № 10. P. 7219-7223.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kholod A.N., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 1999. Vol. 85. № 10. P. 7219-7223.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit47"><label>47</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 3. С. 397-403.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 3. С. 397-403.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit48"><label>48</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 4. С. 524-529.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 4. С. 524-529.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit49"><label>49</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 5. С. 644-649.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖПС. 2005. Т. 72. № 5. С. 644-649.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit50"><label>50</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Korolev A.V., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. // Elektronika. 2006. Vol. 47. № 5. P. 42-45.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Korolev A.V., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. // Elektronika. 2006. Vol. 47. № 5. P. 42-45.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit51"><label>51</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А., Каменев Б.В., Борисенко В.Е. // ФТП. 2002. Т. 36. № 2. С. 221-226.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А., Каменев Б.В., Борисенко В.Е. // ФТП. 2002. Т. 36. № 2. С. 221-226.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit52"><label>52</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А., Королев А.В., Борисенко В.Е. и др. // ЖТФ. 2003. Т. 73. № 1. С. 67-72.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А., Королев А.В., Борисенко В.Е. и др. // ЖТФ. 2003. Т. 73. № 1. С. 67-72.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit53"><label>53</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Berashevich J.A., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Mat. Sci. Eng. 2003. Vol. B101. № 1. P. 111-118.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berashevich J.A., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Mat. Sci. Eng. 2003. Vol. B101. № 1. P. 111-118.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit54"><label>54</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Berashevich J.A., Danilyuk A. L., Borisenko V.E. // Mat. Sci. Eng. 2003. Vol. B101., № 1. P. 300-304</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berashevich J.A., Danilyuk A. L., Borisenko V.E. // Mat. Sci. Eng. 2003. Vol. B101., № 1. P. 300-304</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit55"><label>55</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Королев А.В., Андреенко А.В., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 57.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Королев А.В., Андреенко А.В., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 57.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit56"><label>56</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 76.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 76.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit57"><label>57</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Прикл. физика. 2008. № 4. С.20-26.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Прикл. физика. 2008. № 4. С.20-26.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit58"><label>58</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2009. № 3. С. 67-72.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2009. № 3. С. 67-72.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit59"><label>59</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Прикл. физика. 2011. № 2. С.12-18.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Подрябинкин Д.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // Прикл. физика. 2011. № 2. С.12-18.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit60"><label>60</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новик Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2003. № 2. С. 20-28.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Новик Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2003. № 2. С. 20-28.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit61"><label>61</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Берашевич Ю.А., Новик Н.В., Борисенко В.Е. // Микроэлектроника. 2004. Т. 33. № 3. С. 209-217.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Берашевич Ю.А., Новик Н.В., Борисенко В.Е. // Микроэлектроника. 2004. Т. 33. № 3. С. 209-217.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit62"><label>62</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гриб Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Биофизика. 2007. Т. 52. № 6. С. 1008-1016.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гриб Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Биофизика. 2007. Т. 52. № 6. С. 1008-1016.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit63"><label>63</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гриб Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Биофизика. 2007. Т. 53. № 1. С. 30-35.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гриб Н.В., Берашевич Ю.А., Борисенко В.Е. // Биофизика. 2007. Т. 53. № 1. С. 30-35.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit64"><label>64</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Опт. спектр. 2005. Т. 99. № 2. С. 261-272.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Опт. спектр. 2005. Т. 99. № 2. С. 261-272.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit65"><label>65</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 71.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2006. № 5. С. 71.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit66"><label>66</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 2007. Т. 74. № 1. С. 86-92.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 2007. Т. 74. № 1. С. 86-92.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit67"><label>67</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2009. № 2. С. 17-22.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пушкарчук В.А., Килин С.Я., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2009. № 2. С. 17-22.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit68"><label>68</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pushkarchuk V., Nizovtsev A., Borisenko V.E. et al. // Proceedings SPIE. 2009. Vol. 7377. P. 737707.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pushkarchuk V., Nizovtsev A., Borisenko V.E. et al. // Proceedings SPIE. 2009. Vol. 7377. P. 737707.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit69"><label>69</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пушкарчук В.А., Пушкарчук А.Л., Борисенко В.Е. и др. // Опт. спектр. 2010. Т. 108. № 2. С. 278-284.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пушкарчук В.А., Пушкарчук А.Л., Борисенко В.Е. и др. // Опт. спектр. 2010. Т. 108. № 2. С. 278-284.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit70"><label>70</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gaponenko N.V., Parkun V.M., Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 1997. Vol. 297. № 1. P. 202-206.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gaponenko N.V., Parkun V.M., Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 1997. Vol. 297. № 1. P. 202-206.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit71"><label>71</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гапоненко Н.В., Мудрый А.В., Борисенко В.Е. и др. // Неорг. матер. 1997. Т. 33, № 9. С. 1082-1086.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гапоненко Н.В., Мудрый А.В., Борисенко В.Е. и др. // Неорг. матер. 1997. Т. 33, № 9. С. 1082-1086.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit72"><label>72</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S.K., Muryi A.V., Borisenko V.E. // Appl. Phys. Lett. 1998. Vol. 73. № 16. P. 2272-2274.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S.K., Muryi A.V., Borisenko V.E. // Appl. Phys. Lett. 1998. Vol. 73. № 16. P. 2272-2274.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit73"><label>73</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сергеев О.В., Гапоненко Н.В., Борисенко В.Е. и др. // Изв. Бел. инж. акад. 2000. Т. 1. № 9/2. С. 5-8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сергеев О.В., Гапоненко Н.В., Борисенко В.Е. и др. // Изв. Бел. инж. акад. 2000. Т. 1. № 9/2. С. 5-8.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit74"><label>74</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gaponenko N.V., Kortov V.S., Borisenko V.E. et al. // Microel. Eng. 2012. Vol. 90. № 1. P. 131-137.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gaponenko N.V., Kortov V.S., Borisenko V.E. et al. // Microel. Eng. 2012. Vol. 90. № 1. P. 131-137.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit75"><label>75</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Linnik O., Smirnova N., Borisenko V.E. et al. // Adv. Sci. Eng. Medicine. 2013. Vol. 5. № 4. P. 281-286.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Linnik O., Smirnova N., Borisenko V.E. et al. // Adv. Sci. Eng. Medicine. 2013. Vol. 5. № 4. P. 281-286.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit76"><label>76</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S.K., Sasinovich D.A., Borisenko V.E. // Phys. Stat. Sol. (c). 2008. Vol. 5. № 12. 3690-3693.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S.K., Sasinovich D.A., Borisenko V.E. // Phys. Stat. Sol. (c). 2008. Vol. 5. № 12. 3690-3693.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit77"><label>77</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Купреева О.В., Сасинович Д.А., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2011. № 3. С. 29-33.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Купреева О.В., Сасинович Д.А., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2011. № 3. С. 29-33.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit78"><label>78</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Купреева О.В., Лазарук С.К., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 2012. Т. 79. № 6. С. 1010-1013.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Купреева О.В., Лазарук С.К., Борисенко В.Е. и др. // ЖПС. 2012. Т. 79. № 6. С. 1010-1013.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit79"><label>79</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lazarouk S. K. Sasinovich D. A. Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 2012. Vol. 526. № 1. P. 41-44.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lazarouk S. K. Sasinovich D. A. Borisenko V.E. et al. // Thin Solid Films. 2012. Vol. 526. № 1. P. 41-44.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit80"><label>80</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ашуркевич К.В., Николаенко И.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2012. № 6. С. 51-57.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ашуркевич К.В., Николаенко И.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2012. № 6. С. 51-57.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit81"><label>81</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ашуркевич К.В., Николаенко И.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2013. № 2. С. 10-13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ашуркевич К.В., Николаенко И.А., Борисенко В.Е. // Докл. БГУИР. 2013. № 2. С. 10-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit82"><label>82</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Phys. Chem. C. 2010. Vol. 114. № 49. P. 21013-21019.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Phys. Chem. C. 2010. Vol. 114. № 49. P. 21013-21019.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit83"><label>83</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2010. Vol. 108. № 9. P. 093713.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2010. Vol. 108. № 9. P. 093713.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit84"><label>84</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2010. Vol. 108. № 9. P. 093714.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Migas D.B., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. // J. Appl. Phys. 2010. Vol. 108. № 9. P. 093714.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit85"><label>85</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Shaposhnikov V.L., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (b). 2011. Vol. 248. № 6. P. 1471-1476.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shaposhnikov V.L., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (b). 2011. Vol. 248. № 6. P. 1471-1476.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit86"><label>86</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Игнатенко С.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ 2005. Т. 75. В. Е. № 6. P. 8-12.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Игнатенко С.А., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ 2005. Т. 75. В. Е. № 6. P. 8-12.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit87"><label>87</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Игнатенко С.А., Борисенко В.Е. // ФТП. 2005. Т. 39. № 9. С. 1083-1088.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Игнатенко С.А., Борисенко В.Е. // ФТП. 2005. Т. 39. № 9. С. 1083-1088.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit88"><label>88</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Панфиленок А.С., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ. 2008. Т. 78. № 4. С. 89-94.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Панфиленок А.С., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ. 2008. Т. 78. № 4. С. 89-94.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit89"><label>89</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sidorova T.N., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Proceedings SPIE. 2009. Vol. 7377. P. 737708.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sidorova T.N., Danilyuk A.L., Borisenko V.E. et al. // Proceedings SPIE. 2009. Vol. 7377. P. 737708.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit90"><label>90</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кухарев А.В., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ. 2010. Т. 80. № 9. С. 80-84.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кухарев А.В., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. // ЖТФ. 2010. Т. 80. № 9. С. 80-84.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit91"><label>91</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Костров А.И., Стемпицкий В.Р., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2010. № 2. С. 23-29.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Костров А.И., Стемпицкий В.Р., Борисенко В.Е. и др. // Докл. БГУИР. 2010. № 2. С. 23-29.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit92"><label>92</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Костров А.И., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. и др. // Микроэлектроника. 2011. Т. 40. № 5. С. 393-400.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Костров А.И., Данилюк А.Л., Борисенко В.Е. и др. // Микроэлектроника. 2011. Т. 40. № 5. С. 393-400.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit93"><label>93</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Krivosheeva A.V., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // Microel. Reliability. 2006. Vol. 46. P. 1747-1749.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Krivosheeva A.V., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // Microel. Reliability. 2006. Vol. 46. P. 1747-1749.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit94"><label>94</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Krivosheeva A.V., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Phys.: Condens. Matter. 2009. Vol. 21. № 4. P. 045507.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Krivosheeva A.V., Shaposhnikov V.L., Borisenko V.E. et al. // J. Phys.: Condens. Matter. 2009. Vol. 21. № 4. P. 045507.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit95"><label>95</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wu X., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 2010. Vol. 96. № 7. P. 172901.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wu X., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Appl. Phys. Lett. 2010. Vol. 96. № 7. P. 172901.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit96"><label>96</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Danilyuk M.A., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // J. Nano- Electronic Phys. 2012. Vol. 4. P. 01014.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Danilyuk M.A., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // J. Nano- Electronic Phys. 2012. Vol. 4. P. 01014.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit97"><label>97</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Danilyuk M.A., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 2013. Vol. 210. № 2. P. 361-366.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Danilyuk M.A., Migas D.B., Borisenko V.E. et al. // Phys. Stat. Sol. (a). 2013. Vol. 210. № 2. P. 361-366.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit98"><label>98</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wu X., Cha D., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2013. Vol. 113. № 11. P. 114503.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wu X., Cha D., Borisenko V.E. et al. // J. Appl. Phys. 2013. Vol. 113. № 11. P. 114503.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit99"><label>99</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Scopus. - [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.scopus.com. - Дата доступа: 21.12.2014.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Scopus. - [Электронный ресурс]. - Режим доступа: www.scopus.com. - Дата доступа: 21.12.2014.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
