<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">bsuir</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Доклады БГУИР</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Doklady BGUIR</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7648</issn><issn pub-type="epub">2708-0382</issn><publisher><publisher-name>БГУИР</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.35596/1729-7648-2020-18-6-57-65</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">bsuir-2786</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОНИКА, РАДИОФИЗИКА, РАДИОТЕХНИКА, ИНФОРМАТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTRONICS, RADIOPHYSICS, RADIOENGINEERING, INFORMATICS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Исследование влияния условий подачи озоно-воздушной смеси на процесс удаления фоторезиста с поверхности кремниевой пластины</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Study of the influence of ozone-air mixture supply conditions on the process of the photoresist removal from the silicon wafer surface</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Тихон</surname><given-names>О. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tsikhan</surname><given-names>O. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Тихон Олег Игоревич, аспирант кафедры электронной техники и технологии</p><p>220013, Республика Беларусь, г. Минск, ул. П. Бровки, 6</p><p>тел. +375-17-293-85-82</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Tsikhan Oleg Igorevich, PG Student of the Electronic Technology and Engineering Department</p><p>220013, Republic of Belarus, Minsk, P. Brovki str., 6</p><p>tel. +375-17-293-85-82</p></bio><email xlink:type="simple">kritgar@bsuir.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мадвейко</surname><given-names>С. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Madveika</surname><given-names>S. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>к.т.н., доцент, заведующий кафедрой электронной техники и технологии</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>PhD, Associate Professor, Head of the Electronic Technology and Engineering Department</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бордусов</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bordusau</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>д.т.н., профессор, профессор кафедры электронной техники и технологии</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>D.Sci., Professor of the Electronic Technology and Engineering Department</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Барахоев</surname><given-names>А. Л.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Barakhoev</surname><given-names>A. L.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>аспирант кафедры электронной техники и технологии</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>PG Student of the Electronic Technology and Engineering Department</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Камлач</surname><given-names>П. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kamlach</surname><given-names>P. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>к.т.н., доцент, доцент кафедры электронной техники и технологии</p><p>г. Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>PhD, Associate Professor, Associate Professor of the Electronic Technology and Engineering department</p><p>Minsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники</institution></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University of Informatics and Radioelectronics</institution></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2020</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>01</day><month>10</month><year>2020</year></pub-date><volume>18</volume><issue>6</issue><fpage>57</fpage><lpage>65</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Тихон О.И., Мадвейко С.И., Бордусов С.В., Барахоев А.Л., Камлач П.В., 2020</copyright-statement><copyright-year>2020</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Тихон О.И., Мадвейко С.И., Бордусов С.В., Барахоев А.Л., Камлач П.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Tsikhan O.I., Madveika S.I., Bordusau S.V., Barakhoev A.L., Kamlach P.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/2786">https://doklady.bsuir.by/jour/article/view/2786</self-uri><abstract><p>Работа посвящена изучению зависимости результатов обработки фоторезистивных пленок на поверхности кремниевых пластин в среде озона от условий и параметров проведения процесса. Высокий окислительный потенциал озона обосновывает возможность его применения для удаления органических пленок в условиях атмосферного давления. Эксперименты выполнялись с использованием разработанного исследовательского стенда, в котором варьировался режим и способ нагрева пластины, а также способ подачи газа к поверхности фоторезиста. В качестве экспериментальных образцов выступали кремниевые пластины со сформированным слоем фоторезистивной маскирующей пленки толщиной 1,35 мкм. Было установлено, что для обеспечения равномерности нагрева пластины по всей ее поверхности целесообразным является использование керамического инфракрасного нагревателя. При подаче озоно-воздушной смеси в центр нагретого образца наблюдалось наличие остатков удаляемого фоторезиста, связанное с перепадом температуры в его приповерхностной области. Для решения данной проблемы были рассчитаны компьютерные модели температурных режимов элементов реакционного объема, которые показали, что рассеяние потока рабочего газа по поверхности кремниевой пластины позволяет значительно увеличить эффективность удаления фоторезиста, а при качественном подборе режима обработки обеспечивает полное снятие фоторезистивного материала. Полученные данные были экспериментально подтверждены путем использования сепаратора потока озоно-воздушной смеси. Проведены эксперименты по исследованию влияния расстояния от поверхности пластины до места ввода рабочего газа на скорость удаления фоторезиста, показавшие, что уменьшение расстояния способствует сокращению потерь озона в результате термического разложения и, соответственно, повышению скорости удаления материала.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The study is devoted to the research of the dependence of the processing results of photoresistive films on the silicon wafers surface in an ozone environment on the conditions and parameters of the process. The high oxidizing potential of ozone justifies the possibility of its use for removing organic films under atmospheric pressure. The experiments were carried out using the developed research bench, in which the mode and method of heating, as well as the method of supplying gas to the surface of the photoresist, were varied. Silicon wafers with a formed 1,35-μm thick masking photoresist film were used as experimental samples. It was found expedient that uniform heating of the plate over its entire surface can be achieved using a ceramic IR heater. When the ozone-air mixture was introduced into the center of the heated sample, the presence of the removed photoresist residues was observed, which was associated with a temperature drop in its surface area. To solve this problem, the computer models of the temperature regimes of the reaction volume elements were calculated. They showed that the scattering of the working gas flow over the surface of the silicon wafer would significantly increase the efficiency of photoresist removal, and with a good selection of the treatment regime it would ensure complete removal of the photoresist. The data obtained were experimentally confirmed by using an ozone-air mixture flow separator. Experiments were carried out to study the effect of the distance from the wafer surface to the working gas inlet on the photoresist removal rate. They showed that a decrease in the distance reduces the ozone loss due to thermal decomposition and, consequently, increases the material removal rate.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>удаление фоторезиста</kwd><kwd>озон</kwd><kwd>озоно-воздушная смесь</kwd><kwd>температура пластин</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>photoresist removal</kwd><kwd>ozone</kwd><kwd>ozone-air mixture</kwd><kwd>wafers temperature</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Huynh C.K., Mitchener J.C. Plasma versus ozone photoresist ashing: Temperature effects on processinduced mobile ion contamination. Journal of Vacuum Science &amp; Technology B. 1991;9(2):353-356. DOI: 10.1116/1.585574.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Huynh C.K., Mitchener J.C. Plasma versus ozone photoresist ashing: Temperature effects on process-induced mobile ion contamination. Journal of Vacuum Science &amp; Technology B. 1991;9(2):353-356. DOI: 10.1116/1.585574.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лунин В.В., Попович М.П., Ткаченко С.Н. Физическая химия озона. Москва: Изд-во МГУ; 1998.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lunin V.V., Popovich M.P., Tkachenko S.N. [Physical chemistry of ozone]. Moscow: Publ. MSU; 1998. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Разумовский С.Д., Заиков Г.Е. Озон и его реакции с органическими соединениями (кинетика и механизм). Москва: «Наука»; 1974.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Razumovskij S.D., Zaikov G.E. [Ozone and its reactions with organic compounds (kinetics and mechanism)]. Moscow: «Nauka»; 1974. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Драгинский В.Л., Алексеева Л.П., Самойлович В.Г. Озонирование в процессах очистки воды. Москва: ДеЛи принт, 2007.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Draginskij V.L., Alekseeva L.P., Samojlovich V.G. [Ozonation in water treatment processes]. Moscow: DeLi print, 2007. (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">West A., Schans M., Xu C., Cooke M., Wagenaars E. Fast, downstream removal of photoresist using reactive oxygen species from the effluent of an atmospheric pressure plasma Jet. Plasma Sources Sci. Technol. 2016;25:02LT01. DOI: 10.1088/0963-0252/25/2/02LT01.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">West A., Schans M., Xu C., Cooke M., Wagenaars E. Fast, downstream removal of photoresist using reactive oxygen species from the effluent of an atmospheric pressure plasma Jet. Plasma Sources Sci. Technol. 2016;25:02LT01. DOI: 10.1088/0963-0252/25/2/02LT01.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Miura T., Kekura M., Horibe H., Yamamoto M. Photo-resist Removal using Highly Concentrated Ozone Gas – Removal Characteristics of Various Resists: Journal of Photopolymer Science and Technology. 2008;21(2):311-316. DOI: 10.2494/photopolymer.21.311.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Miura T., Kekura M., Horibe H., Yamamoto M. Photo-resist Removal using Highly Concentrated Ozone Gas - Removal Characteristics of Various Resists: Journal of Photopolymer Science and Technology. 2008;21(2):311-316. DOI: 10.2494/photopolymer.21.311.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gardner W.L., Baddorf A.P., Holber W.M. Temperature and concentration effects on ozone ashing of photoresist. Journal of Vacuum Science &amp; Technology A. 1997;15(3):1409-1412. DOI: 10.1116/1.580551.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gardner W.L., Baddorf A.P., Holber W.M. Temperature and concentration effects on ozone ashing of photoresist. Journal of Vacuum Science &amp; Technology A. 1997;15(3):1409-1412. DOI: 10.1116/1.580551.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
